[發明專利]反射檢測設備、顯示設備、電子設備和反射檢測方法

無效

• 申請號: 201010121148.2
• 申請日: 2010-02-11
• 公開（公告）號: CN101819490A
• 公開（公告）日: 2010-09-01
• 發明（設計）人: 楊映保
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: G06F3/042
• 分類號: G06F3/042
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 秦晨

1.一種反射檢測設備，包括：

光發射表面；

檢測光輸出部分，從作為光發射表面的一部分的發射區域傾斜地發射檢測光；

多個光接收裝置，選擇性地接收從發射區域發射到外部對象并在被外部對象反射之后以預定的角度進入光發射表面的檢測光作為反射檢測光；以及

高度檢測部分，使用接收了反射檢測光的光接收裝置的位置信息和發射區域的位置信息，獲得檢測光被外部對象反射的點的高度，該高度是離光發射表面的距離。

2.根據權利要求1所述的反射檢測設備，

其中，檢測光輸出部分能夠使發射區域沿著一個方向偏移，該發射區域傾斜地發射檢測光。

3.根據權利要求2所述的反射檢測設備，

其中，高度檢測部分獲得反射檢測光的入射位置在偏移方向上的坐標a2和在獲得坐標a2時的發射區域的位置的坐標a1，并且

其中，使用獲得的兩個坐標a1和a2、檢測光相對于光發射表面的發射角θ1和反射檢測光相對于光發射表面的入射角θ2，高度檢測部分通過求解下述方程(1)來獲得與高度相對應的值H。

H＝|a1-a2|＊tanθ1＊tanθ2/(tanθ1+tanθ2)...(1)

4.根據權利要求1所述的反射檢測設備，

其中，檢測光輸出部分能夠從發射區域輸出兩條平行光束作為檢測光并使發射區域沿著與光發射表面內的兩個相對方向平行的方向偏移，這兩條平行光束在這兩個相對方向上具有傾角分量。

5.根據權利要求4所述的反射檢測設備，

其中，對于這兩條平行光束中的每一條，高度檢測部分獲得反射檢測光的入射位置在偏移方向上的坐標a2和在獲得坐標a2時的發射區域的位置的坐標a1，并且

其中，使用獲得的兩個坐標a1和a2、以及檢測光相對于光發射表面的發射角θ1，高度檢測部分通過求解對于這兩條平行光束中的每一條成立的下述方程(1)來獲得與高度相對應的值H：

H＝|a1-a2|＊tanθ1＊tanθ2/(tanθ1+tanθ2)...(1)，

在該方程中，反射檢測光相對于光發射表面的入射角θ2和與高度相對應的值H是未知的。

6.根據權利要求2所述的反射檢測設備，還包括：

多個光接收透鏡，

其中，所述多個光接收裝置相對于所述多個光接收透鏡中的每一個成對地設置，并且

其中，成對的兩個光接收裝置被設置為在所述多個光接收透鏡中相應的一個光接收透鏡的光收集范圍內在偏移方向上彼此分開。

7.一種顯示設備，包括：

顯示表面；

顯示部分，具有用于將根據輸入的視頻信號調制的可見光從顯示表面輸出到外部對象的圖像顯示功能和從作為顯示表面的一部分的發射區域傾斜地發射檢測光的功能；

多個光接收裝置，選擇性地接收從發射區域發射到外部對象并在被外部對象反射之后以預定的角度進入顯示表面的檢測光作為反射檢測光；以及

高度檢測部分，使用接收了反射檢測光的光接收裝置的位置信息和發射區域的位置信息，獲得檢測光被外部對象反射的點的高度，該高度是離顯示表面的距離。

8.根據權利要求7所述的顯示設備，

其中，顯示部分能夠使發射區域沿著一個方向偏移，該發射區域傾斜地發射檢測光，

其中，高度檢測部分獲得反射檢測光的入射位置在偏移方向上的坐標a2和在獲得坐標a2時的發射區域的位置的坐標a1，并且

其中，使用獲得的兩個坐標a1和a2、檢測光相對于顯示表面的發射角θ1和反射檢測光相對于顯示表面的入射角θ2，高度檢測部分通過求解下述方程(1)來獲得與高度相對應的值H：

H＝|a1-a2|＊tanθ1＊tanθ2/(tanθ1+tanθ2)...(1)。