[發明專利]管理放射性成像系統的維護的系統和方法有效
| 申請號: | 201010116514.5 | 申請日: | 2010-01-26 |
| 公開(公告)號: | CN101803929A | 公開(公告)日: | 2010-08-18 |
| 發明(設計)人: | K·曼納;Y·鄭 | 申請(專利權)人: | 通用電氣公司 |
| 主分類號: | A61B6/00 | 分類號: | A61B6/00 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 柯廣華;徐予紅 |
| 地址: | 美國*** | 國省代碼: | 美國;US |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 管理 放射性 成像 系統 維護 方法 | ||
技術領域
一般來說,本文的主題涉及對放射性成像系統執行維護的系統和方法,更具體來說,涉及預測放射性成像系統中X射線管的故障的系統和方法。
背景技術
放射性成像系統(例如X射線計算機斷層掃描(CT))的未計劃關機的主要原因包括其中安裝的X射線管的故障。管故障對于向患者輸送健康護理以及放射性成像系統的工作(operation)和收入生成會有極大的破壞性。
上述問題可通過本文在以下描述中所述的主題來解決。
發明內容
本文所述的主題的系統和方法提供對具有帶x射線管組件(assembly)的輻射源的成像系統的剩余時間段(time?period)的生存性的增強預測。本系統和方法可為保養(service)工作增加交付時間(lead?time),以便以降低的未計劃停工期(downtime)來調度替換管的發貨和安裝。
根據一個實施例,提供一種預測包括作為輻射源的x射線管組件的成像系統的故障的方法。該方法包括以下步驟:獲取x射線管組件的使用年限(age);與管組件的使用情況(usage)無關地計算管組件對剩余時間段的生存性的基線(baseline)概率;獲取x射線管組件的至少一個工作參數的測量;以及響應于x射線管組件的至少一個工作參數的測量而自動改變x射線管組件的生存性的概率。
根據另一個實施例,提供一種預測包括具有x射線管組件的輻射源的成像系統的故障的系統。該系統包括:具有多個可編程存儲指令的存儲介質;以及與成像系統通信的處理器,多個程序指令指示處理器執行以下步驟:獲取x射線管組件的使用年限;與管組件的使用年限相關地計算管組件對剩余時間段的生存性的基線概率;獲取x射線管組件的至少一個工作參數的測量;以及響應于x射線管組件的至少一個工作參數的測量而自動改變成像系統對剩余時間段的生存性的基線概率。
通過附圖及其詳細描述,本領域技術人員將會清楚地知道本發明的各種其它特征、目的和優點。
附圖說明
圖1包括與本文所述主題的管理系統的一個實施例結合的成像系統的圖解表示,該成像系統合并有作為輻射源的x射線管。
圖2包括合并在圖1的成像系統中的類型的x射線管的一個實施例的詳圖。
圖3包括說明管理圖1中成像系統的方法的一個實施例的流程圖。
圖4包括提取特征或事件代碼的出現并且在出現時根據直方圖創建其趨勢模型的一個實施例的圖形表示。
圖5包括所獲系統或部件(component)級使用情況數據的過濾器的圖形圖示,該過濾器一般可操作成刪除相對于歷史趨勢的離群(outlying)數據。
圖6包括以下步驟的圖形圖示:識別可結合使用情況參數的測量應用于加權關聯性(relevance)?的多個錯誤代碼的意義(significance),以便計算系統、輻射源或管組件的生存性的概率。
圖7包括以下步驟的一個實施例的圖形圖示:根據事件代碼相對其出現的所獲數據來調整成像系統或者其管組件的生存性的基線(baseline)概率。
圖8示出說明包括可操作成指示管理系統的處理器執行根據圖3的方法實施例管理成像系統的步驟的一系列程序指令模塊的軟件的一個實施例的框圖。
具體實施方式
在以下詳細描述中,參照構成其一部分的附圖,附圖中通過舉例說明的方式示出可實施的具體實施例。對這些實施例進行了充分描述,以便使本領域技術人員能夠實施這些實施例,并且要理解,可利用其它實施例,可在沒有脫離這些實施例的范圍的情況下進行邏輯、機械、電氣及其它改變。因此,以下詳細描述不是要理解為限制本發明的范圍。
圖1示出可操作成對采用輻射源110的成像系統105的維護進行管理的管理系統100的一個實施例。成像系統105的輻射源110的實施例可包括x射線管組件115(又稱作“管組件115”)。成像系統105的所示實施例屬于數字x射線成像系統,它包括可操作成檢測從管115發出的輻射流122的衰減的檢測器120。然而,X射線系統105的類型(例如采用x射線管的系統,如常規x射線系統、CT系統、組織切除或燒灼系統、消毒系統、揭示晶格性質的x射線晶體照相(crystallography)系統、產生小對象的圖像的x射線顯微分析系統、檢查工業零件或焊接的工業射線照相系統、機場安檢系統等)可變。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于通用電氣公司,未經通用電氣公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010116514.5/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種回收含鉻廢液或含鉻鍍件中鉻酐的裝置
- 下一篇:新型防銹空氣炮





