[發明專利]一種自由曲面上的投影式激光刻蝕方法有效
| 申請號： | 201010115968.0 | 申請日： | 2010-02-26 |
| 公開（公告）號： | CN101786200A | 公開（公告）日： | 2010-07-28 |
| 發明（設計）人： | 曹宇;曾曉雁;段軍 | 申請（專利權）人： | 華中科技大學 |
| 主分類號： | B23K26/00 | 分類號： | B23K26/00 |
| 代理公司： | 華中科技大學專利中心 42201 | 代理人： | 曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 自由 曲面 投影 激光 刻蝕 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種自由曲面上的投影式激光刻蝕方法，其特征在于，該方法包括 下列步驟：
(1)建立XYZ直角坐標系下的自由曲面零件表面的離散點云模型， 離散點云模型中的數據要么直接來自于將計算機輔助設計自由曲面零件的 三維實體模型轉換的點云數據，要么來自于對已有的自由曲面零件進行反 向工程測量獲得的點云數據；
(2)將自由曲面上待刻蝕加工的圖形或圖案劃分為子塊，且在子塊內 部的點云數據Z坐標值的最大差值小于聚焦光路確定的激光焦深；設與各 子塊內部點云數據Z坐標平均值對應或最接近的點為該子塊的加工起始位 置，則其Z坐標值即為該子塊對應的激光加工焦距；
(3)將各子塊內的待加工圖形或圖案依照平行投影原則向XY平面進 行投影，獲得子塊投影加工圖形；
(4)控制XY二維工作臺將激光定位到自由曲面上第一個子塊的加工 起始位置，再在Z軸方向上調節激光焦點與加工起始位置的Z坐標重合；
(5)利用二軸激光振鏡對振鏡掃描區域內所有具有相同Z坐標值的子 塊投影加工圖形進行掃描加工；
(6)按照(4)至(5)的步驟，遍歷各子塊進行加工，直至所有子塊 投影加工圖形全部加工完畢。
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