[發(fā)明專利]基板處理裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010115469.1 | 申請日: | 2010-02-10 |
| 公開(公告)號: | CN101800163A | 公開(公告)日: | 2010-08-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 月野木涉 | 申請(專利權(quán))人: | 東京毅力科創(chuàng)株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/00 | 分類號: | H01L21/00 |
| 代理公司: | 北京尚誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11322 | 代理人: | 龍淳 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 處理 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種基板處理裝置,對例如半導(dǎo)體晶片或LCD基板(液 晶顯示器用玻璃基板)等基板進行抗蝕劑液的涂敷處理、曝光后的顯 影處理等處理。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體器件或LCD基板的制造工藝中,利用被稱為光刻的技術(shù) 對基板進行抗蝕劑圖案的形成。該技術(shù)通過以下一系列工序進行,即, 在例如半導(dǎo)體晶片(以下稱為晶片)等基板,涂敷抗蝕劑液,在該晶 片的表面形成液膜,利用光掩模使該抗蝕劑膜曝光后,通過進行顯影 處理獲得所期望的圖案。
這樣的處理,通常使用將曝光裝置與進行抗蝕劑液的涂敷、顯影 的涂敷顯影裝置連接而成的抗蝕劑圖案形成裝置進行。在該裝置中, 例如如圖15所示,將收納多個晶片的載體10搬入載體區(qū)1A的載體臺 11,通過交接臂12將載體10內(nèi)的晶片交接至處理區(qū)1B。然后,在處 理區(qū)1B內(nèi),在進行反射防止膜形成模塊(未圖示)中的反射防止膜的 形成、涂敷模塊13中的抗蝕劑膜的形成后,通過接口區(qū)1C傳送至曝 光裝置1D。
另一方面,曝光處理后的晶片,被再次送回處理區(qū)1B,通過顯影 模塊14進行顯影處理,然后被送回原來的載體10內(nèi)。在上述反射防 止膜、抗蝕劑膜的形成處理的前后和顯影處理的前后,進行晶片的加 熱處理和冷卻處理,這些進行加熱處理的加熱模塊和進行冷卻處理的 冷卻模塊等,多層地排列在擱板模塊15(15a~15c),通過設(shè)置于處理 區(qū)1B的主臂16(16A,16B),將晶片在各模塊彼此之間傳送。
通常,按照處理的各批次準(zhǔn)備載體10,從一個載體10被移出至處 理區(qū)1B的晶片,在通過該處理區(qū)1B和曝光裝置1D進行規(guī)定的處理 后,被收納于原來的載體10。此時,在上述載體臺11,載置有多個例 如4個載體10,例如上述交接臂12構(gòu)成為能夠訪問全部的載體10。 然后,將晶片移出至處理區(qū)1B后的空的載體10,在載體臺11上,進 行待機直至晶片結(jié)束規(guī)定的處理,將已處理結(jié)束的晶片W送回上述載 體10內(nèi)后,使收納已處理的晶片的載體10與收納未處理的晶片的載 體10交換。
然而,被搬入該涂敷顯影裝置的載體10,按照以下的方式進行晶 片的搬送,即,預(yù)先確定被搬入載體臺11的順序,根據(jù)載體10的搬 入順序,通過交接臂12進行晶片從載體10向處理區(qū)1B的移出,利用 該處理區(qū)1B進行處理,并將處理后的晶片送回原來的載體10。
然而,對于例如評價測試用基板、研究開發(fā)用基板、試制基板等 而言,存在發(fā)生無視已確定的載體10的搬入順序而優(yōu)先進行處理的特 急批次的情況。在該情況下,將收納有特急批次的晶片的載體(以下, 稱為“特急載體”)插入上述已確定的載體10的搬入順序中,搬入載體 臺11,通過交接臂12將該特急載體的晶片優(yōu)先地移出至處理區(qū)B1進 行處理。
此時,如果存在用于將該特急載體搬入載體臺11的載置部,則能 夠立即將該特急載體搬入該載置部,并且將該載體內(nèi)的晶片移出至處 理部1B進行處理,因此不會產(chǎn)生問題。然而,在載體臺11的載置部 被其他的載體10占有的情況下,如果不等至對這些載體10的晶片結(jié) 束所有的處理、并且將該載體10與未處理的載體10交換的時刻為止, 特急載體就不能被搬入載體臺11。在這樣的情況下,會存在特急載體 的晶片向處理區(qū)1B移出得較晚,以至雖然是特急載體但是等待處理開 始的待機時間卻較長的問題。
專利文獻1:日本特開2004-193597號公報
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為解決上述課題而完成的,目的在于提供一種基板處理 裝置,涉及在發(fā)生相對其他批次而優(yōu)先進行處理的特急批次的情況下, 能夠縮短該特急批次的基板的等待處理開始的待機時間的技術(shù)。
因此,本發(fā)明的基板處理裝置,具備載置收納有多個基板的載體 并且按照每個載體準(zhǔn)備的交接用載置部,對從載置于該交接用載置部 的載體通過交接機構(gòu)被移出的基板進行處理后,通過上述交接機構(gòu)將 該基板送回上述交接用載置部上的原來的載體,其特征在于,在該基 板處理裝置中,包括:
多個退避用載置部,為了載置上述載體而與上述交接用載置部分 別設(shè)置;
搬入用載置部,為了將上述載體從外部搬入該基板處理裝置而與 上述交接用載置部分別設(shè)置;
載體移載機構(gòu),在這些交接用載置部、退避用載置部、和搬入用 載置部之間進行上述載體的移載;
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





