[發明專利]分析裝置

無效

• 申請號: 201010115467.2
• 申請日: 2005-07-12
• 公開（公告）號: CN101806808A
• 公開（公告）日: 2010-08-18
• 發明（設計）人: 藤本浩司;堀雅貴
• 申請（專利權）人: 愛科來株式會社
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00;G01N35/10;G01N21/01
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳

本案是申請號為200580023567.X、發明名稱為分析用具、分析用具的反應槽的指定方法和分析裝置的專利申請的分案申請

技術領域

本發明涉及在具有反應槽的分析用具中，指定目標反應槽的技術。

背景技術

作為試料的分析方法，例如有利用光學方法或電化學方法分析使試料和試藥反應時的反應液的方法。在利用這些方法進行試料的分析的情況下，使用提供反應場的分析用具。分析用具是安裝在分析反應液用的分析裝置中而被使用。另外，在分析微量試料的情況下，作為分析用具，利用的是形成有微細流路的所謂的微型裝置。

作為微型裝置的一個例子，有全體形成為圓盤狀，在同一圓周上配置多個反應槽的裝置(參照專利文獻1)。這種微型裝置，可利用多個反應槽，并使用不同的試料來進行同一項目(被檢測成分)的分析，或者使用相同的試料進行多個項目的分析。另一方面，在分析裝置中，必須識別各反應槽與哪種試料對應，或者與哪個分析項目對應。

然而，從裝置小型化和降低制造成本的觀點出發，作為微型裝置的安裝對象的分析裝置，不同時在多個反應槽中進行試料的分析，而是形成為具有固定在裝置中的一個分析機構的結構。在這種情況下，在分析裝置中，將微型裝置放置在旋轉工作臺上的狀態下，使微型裝置與旋轉工作臺一起旋轉，改變反應槽的位置，并且利用分析機構，對每個反應槽個別地進行試料分析。另外，在分析裝置中，通過將微型裝置定位放置在旋轉工作臺上，而可以設在旋轉工作臺或與旋轉工作臺連接的旋轉軸上的標記為基準，檢測微型裝置的各反應槽的位置(參照專利文獻2、3)。

在使用如微型裝置那樣的小型分析用具的情況下，由于各反應槽較小，因此，在分析裝置中要求更高的位置檢測精度。這是因為當利用如微型裝置一樣的小型分析用具來指定反應槽的位置時，更容易受到分析用具的尺寸公差或分析用具在旋轉工作臺上的定位誤差的影響，實際的反應槽的位置和檢測的反應槽的位置之間的相對誤差量大，考慮到這點，要求較高的位置檢測精度。然而，為了達到較高的檢測精度，不但需要昂貴的檢測機構，而且檢測機構變得復雜或大型化。其結果是，產生了無論使用的分析用具是否為小型化，但分析裝置也不能小型化的問題。

專利文獻1：日本特開平10-2875號公報

專利文獻2：日本特開平11-233594號公報

專利文獻3：日本特開2002-284342號公報

發明內容

本發明的目的在于提供一種在具有多個反應槽的分析用具中，能夠利用簡單且廉價的結構來指定目標反應槽。

在本發明的第一方面中，提供一種分析用具，其具有保持試料和試藥的反應液的多個反應槽，還具有識別該分析用具的指定部位用的基準部。

多個反應槽例如被配置在同一圓周上，基準部被配置在與多個反應槽相同的圓周上。在這種情況下，基準部例如在上述圓周上互相鄰接的反應槽之間形成，并且包含與上述圓周方向并列的多個線條部。多個線條部以等間隔或大致等間隔并列地配置。在這種情況下，多個反應槽的間隔被設定為多個線條部的間隔的非整數倍。

各線條部例如構成為凹部。凹部沿上述圓周方向的截面例如形成為V字形。各凹部的截面也可以為V字形以外的形狀，例如為矩形或半圓形。另外，線狀部也可以構成為凸部。在這種情況下，凸部沿上述圓周方向的截面形狀例如為V字形、矩形或半圓形。

基準部的反射率也可以與其他部位不同。例如，基準部可以由反射率比其他部位高的材料形成。

基準部構成為至少包含凸部或凹部。在分析用具保持在分析裝置的旋轉工作臺上來使用的結構的情況下，基準部例如在將該分析用具相對于旋轉工作臺進行定位時而被使用。

本發明的分析用具可以還包括為了識別目標反應槽而與該反應槽對應設置的識別部。識別部構成為包含例如與所述基準部形狀不同的凸部或凹部。

本發明的第二方面提供一種分析用具的反應槽的位置指定方法，能夠在具有保持試料和試藥的反應液用的多個反應槽的分析用具中，指定上述各反應槽的位置，其中，在上述分析用具中設置有用于識別上述分析用具的指定部位的基準部，通過識別上述基準部來指定上述各反應槽的位置。

在優選實施方式中，在構成為多個反應槽配置在同一圓周上并且適用于利用光學方法進行試料分析的分析用具中，將基準部與多個反應槽設置在同一圓周上，而且，在檢測基準部時，利用為了使用分析用具進行試料分析而使用的測光裝置。在這種情況下，當檢測基準部時，使測光裝置沿配置有分析用具的多個反應槽的圓周相對地移動，并向分析用具照射光，此時，在測光裝置中接收從分析用具行進的光。