[發(fā)明專利]光插回損測試儀無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010112558.0 | 申請日： | 2010-01-26 |
| 公開（公告）號： | CN102135468A | 公開（公告）日： | 2011-07-27 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 阮志光;陳春 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海光家儀器儀表有限公司;上海光維通信技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人： | 胡美強 |
| 地址： | 200233 上海市*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 光插回損 測試儀 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種光插回損測試儀，其特征在于包括：雙波長激光器；所述的雙波長激光器經(jīng)光路與光偶合器連接；光偶合器經(jīng)光路與法蘭連接；所述法蘭經(jīng)光路與光偶合器相連；光偶合器經(jīng)光路與第二探測器相連；所述的雙波長激光器通過LD驅(qū)動電路與MCU相連；所述的第二探測器通過放大電路和模數(shù)轉(zhuǎn)換電路與MCU相連；放大電路和模數(shù)轉(zhuǎn)換電路還與第一探測器相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光插回損測試儀，其特征在于：所述的MCU還與LCD顯示器相連。
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