[發明專利]光插回損測試儀無效

申請號：	201010112558.0	申請日：	2010-01-26
公開（公告）號：	CN102135468A	公開（公告）日：	2011-07-27
發明（設計）人：	阮志光;陳春	申請（專利權）人：	上海光家儀器儀表有限公司;上海光維通信技術股份有限公司
主分類號：	G01M11/02	分類號：	G01M11/02
代理公司：	上海智信專利代理有限公司 31002	代理人：	胡美強
地址：	200233 上海市***	國省代碼：	上海;31
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摘要：
搜索關鍵詞：	光插回損測試儀
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【權利要求書】：

1.一種光插回損測試儀，其特征在于包括：雙波長激光器；所述的雙波長激光器經光路與光偶合器連接；光偶合器經光路與法蘭連接；所述法蘭經光路與光偶合器相連；光偶合器經光路與第二探測器相連；所述的雙波長激光器通過LD驅動電路與MCU相連；所述的第二探測器通過放大電路和模數轉換電路與MCU相連；放大電路和模數轉換電路還與第一探測器相連。

2.根據權利要求1所述的光插回損測試儀，其特征在于：所述的MCU還與LCD顯示器相連。

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