[發明專利]一種多晶硅薄膜材料的制造方法無效
| 申請號: | 201010111994.6 | 申請日: | 2010-02-09 |
| 公開(公告)號: | CN101834122A | 公開(公告)日: | 2010-09-15 |
| 發明(設計)人: | 彭俊華;黃飚;黃宇華 | 申請(專利權)人: | 廣東中顯科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/20 | 分類號: | H01L21/20;H01L21/336 |
| 代理公司: | 北京泛華偉業知識產權代理有限公司 11280 | 代理人: | 王勇 |
| 地址: | 528225 廣東省佛山*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 多晶 薄膜 材料 制造 方法 | ||
1.一種多晶硅薄膜材料的制造方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1):選定襯底,在該襯底上形成第一阻擋層;
步驟2):在所述第一阻擋層上依次形成金屬誘導層、第二層阻擋層和非晶硅層;
步驟3):對步驟2)所得產物進行第一退火處理,得到已部分晶化的薄膜;
步驟4):在上述已部分晶化的薄膜上形成金屬吸附層;
步驟5):對步驟2)所得產物進行第二退火處理;
步驟6):去除經所述第二退火處理后的金屬吸附層。
2.根據權利要求1所述的多晶硅薄膜材料的制造方法,其特征在于,所述第一和第二阻擋層包括金屬、碳化硅、硅的氧化物或硅的氮化物,厚度為0.1-1.0微米。
3.根據權利要求1所述的多晶硅薄膜材料的制造方法,其特征在于,所述步驟2)中的金屬誘導層中含有Ni、Ai、Ti、Ag、Au、Co、Sb、Pb、Cu中的任意1種或1種以上。
4.根據權利要求1所述的多晶硅薄膜材料的制造方法,其特征在于,所述金屬誘導層厚度在100~900納米之間。
5.根據權利要求1所述的多晶硅薄膜材料的制造方法,其特征在于,所述步驟2)中的非晶硅薄膜厚度為1-100納米。
6.根據權利要求1所述的多晶硅薄膜材料的制造方法,其特征在于,所述步驟3)中的第一退火處理溫度為450-600℃,處理時間為1-2小時,加熱處理所在的氣氛為氮氣或惰性氣體。
7.根據權利要求1所述的多晶硅薄膜材料的制造方法,其特征在于,所述第一退火處理溫度為590℃,處理時間為1-2小時,加熱處理所在的氣氛為惰性氣體。
8.根據權利要求1所述的多晶硅薄膜材料的制造方法,其特征在于,所述步驟4)中的金屬吸附層包括磷硅玻璃、硅的氧化物或硅的氮化物,厚度在100~900納米之間。
9.根據權利要求1所述的多晶硅薄膜材料的制造方法,其特征在于,所述所述步驟5)中的第二退火處理溫度為450-600℃,處理時間為2-3小時,加熱處理所在的氣氛為氮氣或惰性氣體。
10.根據權利要求1至7中任一項所述的多晶硅薄膜材料的制造方法,其特征在于,所述步驟1)中的襯底包括玻璃、不銹鋼或柔性材料襯底。
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
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H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





