[發明專利]一種測試裝置和測試方法

有效

• 申請號: 201010111563.X
• 申請日: 2010-02-08
• 公開（公告）號: CN102147757A
• 公開（公告）日: 2011-08-10
• 發明（設計）人: 趙玉梅;王恒軍;徐駿宇;胡勝發
• 申請（專利權）人: 安凱(廣州)微電子技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳市順天達專利商標代理有限公司 44217
• 代理人: 易釗

1.一種測試裝置，用于對處理器的二級緩存進行測試，該二級緩存與內存通信連接，其特征在于，所述測試裝置包括：

比較模塊；

控制模塊，與比較模塊通信連接，并通過總線與所述二級緩存通信連接，用于向所述比較模塊發出寫入數據，并通過所述總線向所述二級緩存發出寫入地址和所述寫入數據，以控制所述二級緩存依據所述寫入地址將所述寫入數據寫入內存；

監聽模塊，分別與比較模塊和所述內存通信連接，并通信連接至所述總線，用于對所述總線進行監聽，以獲取所述寫入地址，然后在預設等待時間過后，依據該寫入地址在內存中讀取對應的存儲數據，再將讀取的存儲數據發往比較模塊；

所述比較模塊用于對收到的寫入數據和存儲數據進行比較，得到數據比較結果，據此對二級緩存進行測試。

2.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述控制模塊還用于向所述比較模塊發出所述寫入地址；所述監聽模塊還用于將所述寫入地址發往所述比較模塊；所述比較模塊還用于對收到的來自控制模塊和監聽模塊的寫入地址進行比較，得到地址比較結果，并基于所述數據比較結果和所述地址比較結果對二級緩存進行測試。

3.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述總線為AHB總線。

4.一種測試裝置，用于對處理器的二級緩存進行測試，該二級緩存與內存通信連接，其特征在于，所述測試裝置包括：

比較模塊；

控制模塊，與比較模塊通信連接，并通過總線與所述二級緩存通信連接，用于通過所述總線向所述二級緩存發出讀取地址，以及接收所述二級緩存依據該讀取地址找到的讀取數據，并將該讀取數據發往比較模塊；

監聽模塊，分別與比較模塊和所述內存通信連接，并通信連接至所述總線，用于對所述總線進行監聽，以獲取所述讀取地址，據此在內存中讀取對應的存儲數據，然后將該存儲數據發往比較模塊；

所述比較模塊用于對所述讀取數據和存儲數據進行比較，得到數據比較結果，據此對二級緩存進行測試。

5.根據權利要求4所述的測試裝置，其特征在于，所述控制模塊還用于向所述比較模塊發出所述讀取地址；所述監聽模塊還用于將所述讀取地址發往所述比較模塊；所述比較模塊還用于對收到的來自控制模塊和監聽模塊的讀取地址進行比較，得到地址比較結果，并基于所述數據比較結果和所述地址比較結果對二級緩存進行測試。

6.根據權利要求4或5所述的測試裝置，其特征在于，所述總線為AHB總線。

7.一種測試方法，用于對處理器的二級緩存進行測試，該二級緩存與內存通信連接，其特征在于，所述測試方法包括：

控制步驟，包括通過總線向所述二級緩存發出寫入地址和測試數據，以控制所述二級緩存依據所述寫入地址將所述測試數據寫入內存；

監聽步驟，包括對所述總線進行監聽，以獲取所述寫入地址，然后在預設等待時間過后，依據該寫入地址在內存中讀取對應的存儲數據；

比較步驟，包括對測試數據和存儲數據進行比較，得到數據比較結果，據此對二級緩存進行測試。

8.根據權利要求7所述的測試方法，其特征在于，所述比較步驟還包括對控制步驟中發出的寫入地址和監聽步驟中監聽到的寫入地址進行比較，得到地址比較結果，并基于所述數據比較結果和所述地址比較結果對二級緩存進行測試。

9.一種測試方法，用于對處理器的二級緩存進行測試，該二級緩存與內存通信連接，其特征在于，所述測試方法包括：

控制步驟，包括通過所述總線向所述二級緩存發出讀取地址，以及接收所述二級緩存依據該讀取地址找到的讀取數據；

監聽步驟，包括對所述總線進行監聽，以獲取所述讀取地址，據此在內存中讀取對應的存儲數據；

比較步驟，包括對所述讀取數據和存儲數據進行比較，得到數據比較結果，據此對二級緩存進行測試。

10.根據權利要求9所述的測試方法，其特征在于，所述比較步驟還包括對控制步驟中發出的讀取地址和監聽步驟中監聽到的讀取地址進行比較，得到地址比較結果，并基于所述數據比較結果和所述地址比較結果對二級緩存進行測試。