[發(fā)明專利]電荷耦合流水線模數(shù)轉(zhuǎn)換器的差模誤差校準(zhǔn)電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010110526.7 | 申請日: | 2010-02-04 |
| 公開(公告)號: | CN101800548A | 公開(公告)日: | 2010-08-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳珍海;吳俊;季惠才;黃嵩人 | 申請(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所 |
| 主分類號: | H03M1/10 | 分類號: | H03M1/10 |
| 代理公司: | 無錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所 32104 | 代理人: | 曹祖良 |
| 地址: | 214035 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電荷 耦合 流水線 轉(zhuǎn)換器 誤差 校準(zhǔn) 電路 | ||
1.一種電荷耦合流水線模數(shù)轉(zhuǎn)換器的差模誤差校準(zhǔn)電路,其特征是:包括 差模誤差檢測模塊、誤差量化模塊、誤差糾正模塊和控制器模塊;所述差模誤 差檢測模塊用于根據(jù)校準(zhǔn)基準(zhǔn)信號產(chǎn)生差模誤差;誤差量化模塊用于將所述差 模誤差進(jìn)行量化;控制器模塊用于控制整個差模誤差校準(zhǔn)電路的工作,提供差 模誤差檢測模塊工作所需要的校準(zhǔn)碼,并對誤差量化模塊的量化結(jié)果進(jìn)行處理 產(chǎn)生誤差糾正模塊工作所需要的糾錯碼;誤差糾正模塊根據(jù)所述糾錯碼對全差 分結(jié)構(gòu)電荷耦合流水線模數(shù)轉(zhuǎn)換器中正、負(fù)信號處理通路進(jìn)行校準(zhǔn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述差模誤差校準(zhǔn)電路,其特征在于,所述誤差量化模 塊對差模誤差檢測模塊產(chǎn)生的差模誤差進(jìn)行量化的量化精度高于被校準(zhǔn)電荷耦 合流水線模數(shù)轉(zhuǎn)換器中最后一級電荷耦合子級流水線電路的量化精度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述差模誤差校準(zhǔn)電路,其特征是,所述誤差糾正模塊 對被校準(zhǔn)子級流水線電路中由電容失配所產(chǎn)生的電容誤差量ΔC的校準(zhǔn)方法為 在對電荷進(jìn)行加減的基準(zhǔn)電壓上提供一個ΔV的校正電壓量,ΔV滿足下式:
ΔV=ΔC×Vr/(Cr-ΔC),
其中
ΔC:被校準(zhǔn)子級流水線電路中正、負(fù)信號處理通道中用于存儲電荷的電容 值之差,
Cr:被校準(zhǔn)子級流水線電路中用于存儲電荷的電容的理想值,
Vr:被校準(zhǔn)子級流水線電路中對電荷包進(jìn)行加減的基準(zhǔn)電壓值,
ΔV:添加在上述對電荷包進(jìn)行加減的基準(zhǔn)電壓上的校準(zhǔn)電壓值。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述差模誤差校準(zhǔn)電路,其特征在于,所述對電容誤差 量ΔC進(jìn)行校準(zhǔn)的方法的校準(zhǔn)次序為:先對第一級子級流水線電路進(jìn)行校準(zhǔn),在 控制器模塊判斷對第一級子級流水線電路進(jìn)行的校準(zhǔn)完成之后再開始進(jìn)行對第 二級子級流水線電路的校準(zhǔn)工作,后續(xù)各級子級流水線電路采用相同的方式, 在前級電路校準(zhǔn)完成之后再開始后級電路的校準(zhǔn)工作。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述差模誤差校準(zhǔn)電路,其特征在于,所述誤差糾正模 塊的電路實現(xiàn)采用分布式結(jié)構(gòu):誤差糾正模塊內(nèi)部包括多個子誤差糾正電路, 且子誤差糾正電路的使用數(shù)目與整個電荷耦合流水線模數(shù)轉(zhuǎn)換器中所有子級 流水線電路所使用基準(zhǔn)信號選擇電路的數(shù)目相同,即一個基準(zhǔn)信號選擇電路配 套使用一個所述子誤差糾正電路。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述差模誤差校準(zhǔn)電路,其特征在于,所述子誤差糾正 電路中N位糾錯碼通過一個N位電流型DAC和一個連接在DAC輸出端和地之 間的電阻實現(xiàn)對基準(zhǔn)信號選擇電路輸出基準(zhǔn)電壓信號的控制。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所,未經(jīng)中國電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010110526.7/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





