[發明專利]一種用于大型復雜鍛件的超聲檢測方法

有效

• 申請號: 201010108686.8
• 申請日: 2010-02-11
• 公開（公告）號: CN101788532A
• 公開（公告）日: 2010-07-28
• 發明（設計）人: 何方成;史亦韋;梁菁;韓波
• 申請（專利權）人: 中國航空工業集團公司北京航空材料研究院
• 主分類號: G01N29/04
• 分類號: G01N29/04;G01N29/30
• 代理公司: 中國航空專利中心 11008
• 代理人: 李建英

1.一種用于大型復雜鍛件的超聲檢測方法，其特征在于，

1)用縱波底波接觸法或縱波試塊接觸法檢測鍛件，縱波聲波入射 方向應與鍛造流線盡可能垂直，同時確定表面盲區(1)；對于具備底波 法檢測條件的部位，采用縱波底波接觸法進行檢測，方法是首先用底波 法調整儀器靈敏度，使鍛件被檢部位的第一次底波反射信號波高達到基 準波高，再提高ΔdB，按此靈敏度進行掃查，其中，Δ為起始靈敏度；

而對于鍛件上不具備底波法檢測條件的部位應采用縱波試塊接觸 法進行檢測，首先選擇適當耦合面，即能與接觸法探頭較好貼合的表面， 利用含一個平底孔的表面狀態與被檢鍛件相同，形狀與被檢鍛件上對應 檢測部位相近的對比試塊B調整儀器靈敏度，使對比試塊B中平底孔的 反射波高至少達到基準波高，然后再進行檢測，對比試塊B中平底孔的 埋深應大于等于鍛件上對應的檢測部位的最大厚度L；

2)用縱波試塊水浸法對縱波底波接觸法或縱波試塊接觸法檢測時 的表面盲區(1)缺陷做補充檢測，利用材料和表面狀態與被檢鍛件相 同，形狀與被檢鍛件上對應的檢測部位相近的含兩個平底孔的對比試塊 A調整儀器靈敏度，使對比試塊A中兩個平底孔的反射波高均至少達到 基準波高，對比試塊A中兩個平底孔的埋深應分別等于縱波底波接觸法 或縱波試塊接觸法檢測時的表面盲區(1)的大小D和鍛件加工余量(2) 的大小d，使用表面補償后的靈敏度進行掃查，掃查時縱波聲波入射方 向應與鍛造流線盡可能垂直。

2.根據權利要求1所述的一種用于大型復雜鍛件的超聲檢測方法， 其特征在于，所述的縱波試塊接觸法中的對比試塊B采用與鍛件本身相 同材料制作，對比試塊B的表面狀態與被檢鍛件相同，形狀、尺寸與被 檢鍛件上對應的檢測部位形狀相近，檢測時，利用含一個材料和表面狀 態與被檢鍛件相同的直徑為1.2mm的平底孔的對比試塊調整儀器靈敏 度。