[發明專利]一種光譜測量方法

有效

• 申請號: 201010107629.8
• 申請日: 2010-02-02
• 公開（公告）號: CN102087142A
• 公開（公告）日: 2011-06-08
• 發明（設計）人: 潘建根
• 申請（專利權）人: 杭州遠方光電信息股份有限公司
• 主分類號: G01J3/30
• 分類號: G01J3/30;G01J1/42
• 代理公司: 杭州杭誠專利事務所有限公司 33109
• 代理人: 林寶堂

1.一種光譜測量方法，其特征在于包括以下步驟：

a)光譜儀在整個測量波段內或測量波段的部分區域內，以step為波長間隔采樣測量待測光輻射的光譜功率，波長間隔step與光譜儀的帶寬函數B(λ，λ_n)之間的關系滿足帶寬函數B(λ，λ_n)所覆蓋的[λ_p，λ_q]區間內包括4個或4個以上采樣點；其中λ_n為任一采樣點的波長，λ_p和λ_q分別為帶寬函數B(λ，λ_n)所覆蓋區域的最小波長和最大波長；

b)在[λ_p，λ_q]區間內取m(m≥4)個采樣點，用理論真實光譜函數R(λ)擬合經過該m個采樣點的理論真實光譜曲線；

c)根據理論真實光譜函數R(λ)和帶寬函數B(λ，λ_n)推導出校正λ_n點的光譜功率測量值M_n的帶寬誤差的帶寬解調校正公式；

d)用帶寬解調校正公式對被測光輻射的所有或部分波長采樣點的光譜功率測量值進行帶寬解調校正。

2.根據權利要求1所述的光譜測量方法，其特征在于在光譜儀的測量波段內，不同波長區域的采樣波長間隔step不相同，相應波長區域內所用的帶寬解調校正公式中采樣點的數目和/或采樣點的相對位置不相同。

3.根據權利要求1或2所述的光譜測量方法，其特征在于推導所述的帶寬解調校正公式包括以下步驟：

a)根據所述[λ_p，λ_q]區間內的理論真實光譜函數R(λ)和帶寬函數B(λ，λ_n)計算λ_n點的光譜功率測量值M_n：

Mn=∫λpλqB(λ,λn)R(λ)dλ---(1)]]>

b)根據式(1)求解出λ_n點的理論真實光譜功率R_n與所述m個采樣點的光譜功率測量值M₍₁₎，…，M_(m)之間的解析關系：

R_n＝g(M₍₁₎，…，M_(m))(2)

上式即為帶寬解調校正公式。

4.根據權利要求3所述的光譜測量方法，其特征在于所述的帶寬函數B(λ，λ_n)和理論真實光譜函數R(λ)中的λ是歸一化表示的，即所用的波長為實際波長值除以光譜儀的帶寬BW，并以λ_n/BW為0點。

5.根據權利要求1或2所述的光譜測量方法，其特征在于所述的理論真實光譜函數R(λ)是λ的級次展開函數，最高次為(m-1)次。

6.根據權利要求1或2所述的光譜測量方法，其特征在于將[λ_p，λ_q]再分為若干個子區間段，所述m個采樣點分布在各個子區間段中，用相互獨立的子理論真實光譜函數擬合各子區段間內的理論真實光譜曲線，每個子理論真實光譜函數都經過對應子區間內所包含的所述m個采樣點和波長為λ_n的點，所述的理論真實光譜函數R(λ)為各子理論真實光譜函數的相加。