[發明專利]一種光譜分析方法

有效

• 申請號: 201010106805.6
• 申請日: 2010-02-03
• 公開（公告）號: CN101788507A
• 公開（公告）日: 2010-07-28
• 發明（設計）人: 李杰;徐寧;周俊武;趙建軍;繆天宇;高揚;卞寧
• 申請（專利權）人: 北京礦冶研究總院
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223;G06F17/00
• 代理公司: 北京凱特來知識產權代理有限公司 11260
• 代理人: 鄭立明;孟麗娟

技術領域

本發明涉及元素光譜分析領域，尤其涉及一種X射線熒光光譜分析方法。?

背景技術

熒光分析技術廣泛應用于有色、水泥、地質勘探、示蹤溯源等行業的元素無損快速分析檢測中。其中X射線熒光光譜分析是X射線熒光分析技術的關鍵，識別譜峰和提取特征參數是分析被測對象元素及其含量的重要步驟，如果被測對象元素組分復雜，相應的基體效應就會嚴重，熒光光譜譜峰會存在拖尾、重疊、散射本底等干擾，使得譜峰失真，影響后續分析精度。?

因此，現有的X射線熒光光譜分析技術對于元素的定位、定量分析不夠準確。?

發明內容

本發明實施例提供一種光譜分析方法，提高目前光譜分析技術的準確性。?

本發明實施例是通過以下技術方案實現的：?

本發明實施例提供一種光譜分析方法，包括：?

分析標樣光譜，采用多項式擬合法和最小二乘法確定譜峰波長和峰位之間的關系，以及譜峰波長和譜峰寬度之間的關系；?

利用確定的所述譜峰波長和峰位之間的關系及譜峰波長和譜峰寬度之間的關系，計算待測樣品擬包含的元素的激發光譜中可能存在的所有譜峰的峰位以及譜峰寬度；?

在待測樣品全譜范圍內進行尋峰，將尋峰得到的峰位與所述計算的峰位進行比較，以及將尋峰得到的譜峰寬度與所述計算的譜峰寬度比較，判斷是否匹配，如果均匹配，則確定不存在完全重疊峰，根據相鄰的譜峰峰位和所述計算的譜峰寬度確定重疊區域寬度；如果存在不匹配的情況，則確定存在完全重疊峰，根據完全重疊峰峰位和寬度確定重疊區域寬度；?

在各重疊區域內進行譜峰分解，統計各重疊區域內存在的所有所述計算的峰位和譜峰寬度，得到高斯函數均值初始值和方差初始值，將若干高斯函數與本底函數相加得到原始譜峰，采用最小二乘法，得出高斯函數系數初始值及本底函數的數學表達式，所述本底函數為二項式函數；?

利用得到的高斯函數和本底函數進行光譜分析。?

所述采用多項式擬合法和最小二乘法確定譜峰波長和峰位之間的關系包括：?

利用公式wavelength[j]=a1*peakpos_cal[j]²+b1*peakpos_cal[j]+c1，用最小二乘法計算a1、b1和c1，其中wavelength[j]為標樣光譜波長，peakpos_cal[j]為標樣光譜峰位。?

所述采用多項式擬合法和最小二乘法確定譜峰波長和譜峰寬度之間的關系包括：?

利用公式wavewidth[j]=a2*peakpos_cal[j]²+b2*peakpos_cal[j]+c2，用最小二乘法計算a2、b2和c2，其中wavewidth[j]為標樣光譜譜峰寬度，peakpos_cal[j]為標樣光譜峰位。?

所述在待測樣品全譜范圍內進行尋峰包括：?

執行第一次尋峰，在待測樣品光譜數組Spe[i]中找出滿足如下條件的Spe[i]對應的i，組成初始峰位數組Temp_Peak[i]，i為光譜道址，取值范圍為從0到chan，chan為正整數，包括滿足：大于所有峰位下限的加權平均值以及大于相鄰的前后峰位的峰值；?

執行第二次尋峰，在所述初始峰位數組Temp_Peak[i]中找出滿足如下條件的Spe[i]對應的i作為鎖定的峰位，包括滿足：（Spe[Temp_Peak[i]]-(Spe[Temp_Peak[i]-Ini_PW]+Spe[Temp_Peak[i]+Ini_PW])/2)/Ini_PW>1.5，以及滿足(Temp_Peak[i+1]-Temp_Peak[i])<Ini_PW并且(Temp_Peak[i-1]-Temp_Peak[i])>-Ini_PW，其中Ini_PW為譜峰寬度。?

所述Ini_PW初始值為chan/100。?

所述均匹配包括：?