[發明專利]采樣

有效

• 申請號: 201010105439.2
• 申請日: 2010-01-25
• 公開（公告）號: CN101800553A
• 公開（公告）日: 2010-08-11
• 發明（設計）人: 伊恩·朱斯歐·代迪克;加文·朗伯斯·艾倫
• 申請（專利權）人: 富士通微電子株式會社
• 主分類號: H03M1/64
• 分類號: H03M1/64
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 宋鶴;南霆

1.用于對電流信號進行采樣的電流模式電路，該電路包括：

第一節點，被配置為接收電流信號；

X個第二節點，能夠沿著相應的路徑導通性地連接到所述第一節點； 以及

導引電路，被配置為控制第一節點和第二節點之間的連接，從而隨著 時間的流逝，沿著所述路徑中不同的一個來導引構成所述電流信號的不同 電荷包，

其中：

X是大于或等于3的整數；并且

導引電路包括：

控制信號生成電路，被配置為生成X個時間交織正弦型控制信 號；以及

開關電路，沿著所述路徑分布并被配置為基于所述X個時間交織 正弦型控制信號來控制所述連接。

2.如權利要求1所述的電路，其中，所述X個時間交織正弦型控制信 號是升余弦信號。

3.如權利要求1所述的電路，其中，X個路徑中的每一個被所述X個 時間交織正弦型控制信號中不同的一個所控制。

4.如權利要求1所述的電路，還包括：

生成電路，被配置為基于通過所述第二節點的電荷包中的每個的特性 來生成樣本值，該樣本值指示出與所述電荷包中的每個相對應的所述電流 信號的值。

5.如權利要求4所述的電路，還包括：

校準電路，被配置為組合來自所述第二節點中的一個或多個的樣本值 以提供一個或多個組合樣本值，并且基于所組合的樣本值來校準電路的操 作。

6.如權利要求4所述的電路，包括：

校準電路，被配置為分析所述樣本值中的至少一個，并且基于分析的 結果來校準電路的操作。

7.根據權利要求1所述的電路，包括：

復位電路，被耦合到除第一節點外的節點，并且被配置為在該節點的 連續的電荷包之間的時段期間使該節點的電壓電勢等于第一值。

8.根據權利要求1至6中任何一個所述的電路，其中：

所述電路配置來對所述電流信號中的第一電流信號和第二電流信號進 行采樣，所述第一電流信號和第二電流信號彼此互補；

所述電路包括互補的第一電路和第二電路，第一電路對第一電流信號 進行采樣，第二電路對第二電流信號進行采樣；

所述第一電路和第二電路中的每個包括第一節點、第二節點和導引電 路；

所述電路包括復位電路，該復位電路耦合到第二電路的互補節點和第 一電路的第二節點中的至少一個，所述第二電路的互補節點與所述第一電 路的第二節點中的至少一個互補；并且

所述電路還配置為在所述第二節點中的至少一個和互補節點這一對節 點的連續的電荷包之間的時段期間，使該對節點之間的電壓電勢差等于第 二值。

9.一種IC芯片，包括如任一前述權利要求所述的電路。