[發明專利]磁控管的壽命判定方法、磁控管的壽命判定裝置

無效

• 申請號: 201010104207.5
• 申請日: 2006-08-30
• 公開（公告）號: CN101788638A
• 公開（公告）日: 2010-07-28
• 發明（設計）人: 河西繁;長田勇輝
• 申請（專利權）人: 東京毅力科創株式會社
• 主分類號: G01R31/24
• 分類號: G01R31/24;H01L21/00;H01J25/50;H05B6/68
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳

1.一種磁控管的壽命判定方法，其特征在于，

所述磁控管產生微波，具備：包括燈絲的陰極；與該陰極相對配置的包括空腔諧振器的陽極；和提供與所述陰極和所述陽極的配置方向正交的磁場的磁場發生器，

所述磁控管的壽命判定方法包括：

向所述燈絲供給電力，使磁控管工作，產生預先確定的頻率的微波的工作開始工序；

逐漸降低在所述燈絲上施加的電壓，求出產生模變現象時向所述燈絲施加的電壓作為模變電壓的模變電壓測定工序；和

基于在所述模變電壓測定工序中求出的模變電壓，進行所述磁控管的壽命的判定的壽命判定工序。

2.如權利要求1所述的磁控管的壽命判定方法，其特征在于：

在所述壽命判定工序中，當所述模變電壓為所述燈絲的額定電壓的規定百分比以上時，判定壽命終結。

3.如權利要求1所述的磁控管的壽命判定方法，其特征在于：

在所述壽命判定工序中，當所述模變電壓以預先求出的模變電壓為基準變化了規定的百分比以上時，判定壽命終結。

4.如權利要求1～3中任一項所述的磁控管的壽命判定方法，其特征在于：

所述磁控管的壽命判定方法，在預先設定的時刻進行。

5.一種磁控管的壽命判定裝置，其特征在于，

所述磁控管產生微波，具備：包括燈絲的陰極；與該陰極相對配置的包括空腔諧振器的陽極；和提供與所述陰極和所述陽極的配置方向正交的磁場的磁場發生器，

所述磁控管的壽命判定裝置具備：

逐漸降低在所述燈絲上施加的電壓，求出產生模變現象時向所述燈絲施加的電壓作為模變電壓的模變電壓測定部；和

基于由所述模變電壓測定部求出的模變電壓，進行所述磁控管壽命的判定的壽命判定部。

6.如權利要求5所述的磁控管的壽命判定裝置，其特征在于：

當所述模變電壓變化為所述燈絲的額定電壓的規定百分比以上時，所述壽命判定部判定壽命終結。

7.如權利要求5所述的磁控管的壽命判定裝置，其特征在于：

當所述模變電壓以預先求出的模變電壓為基準，變化了規定的百分比以上時，所述壽命判定部判定壽命終結。