[發明專利]一種利用二次離子質譜進行斜鋯石鈾鉛定年的方法無效
| 申請號： | 201010103432.7 | 申請日： | 2010-02-01 |
| 公開（公告）號： | CN102141539A | 公開（公告）日： | 2011-08-03 |
| 發明（設計）人： | 劉宇;李秋立;唐國強;李獻華;郭春華 | 申請（專利權）人： | 中國科學院地質與地球物理研究所 |
| 主分類號： | G01N27/62 | 分類號： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 100029 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 利用 二次 離子 進行 斜鋯石鈾鉛定年 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種使用二次離子質譜進行斜鋯石鈾-鉛定年的方法，其特征在于：在斜鋯石樣品表面吹過量氧氣。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于：儀器樣品室的初始真空度應達到1E-8Torr。
3.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于：樣品表面吹氧后，樣品室真空應控制在1E-5Torr。
4.如上述任一權利要求所述方法，其特征在于：室內溫度控制在每小時變化不超過±1℃的范圍內以保證氧氣壓力恒定。
5.如上述任一權利要求所述方法，其特征在于：所使用氧氣的純度應該大于或等于99.99％。
6.如上述任一權利要求的方法，特征在于：本發明只針對利用二次離子質譜鈾鉛定年方法對斜鋯石樣品進行測量的情況。
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