[發明專利]微納米薄膜沖擊力學性能落錘測量裝置

無效

• 申請號: 201010102921.0
• 申請日: 2010-01-29
• 公開（公告）號: CN101776511A
• 公開（公告）日: 2010-07-14
• 發明（設計）人: 李林安;王世斌;張敏;賈海坤
• 申請（專利權）人: 天津大學
• 主分類號: G01M7/08
• 分類號: G01M7/08
• 代理公司: 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201
• 代理人: 劉國威

1.一種微納米薄膜沖擊力學性能落錘測量裝置，其特征是，包括：于一定的高度作自由落體運動來沖擊試件的重量可調落錘，重量可調落錘固接在兩個滑塊上，兩個滑塊通過內置直線軸承在兩平行的垂直導軌上滑動，兩平行的垂直導軌兩端固定在導軌固定板，導軌固定板固定在落錘裝置架上，落錘裝置架固定在裝置底板，重量可調落錘錘頭安裝有壓電型力傳感器。

2.根據權利要求1所述的一種微納米薄膜沖擊力學性能落錘測量裝置，其特征是，設置有位移傳感器，可對沖擊端面的動態位移進行精確測量。

3.根據權利要求1所述的一種微納米薄膜沖擊力學性能落錘測量裝置，其特征是，還設置有落錘觸發裝置，用于：重量可調落錘抬升后由觸發裝置卡住，做到瞬時擊發。