[發明專利]單片測試裝置和使用單片測試裝置進行測試的方法

無效

• 申請號: 201010004402.0
• 申請日: 2010-01-15
• 公開（公告）號: CN101876678A
• 公開（公告）日: 2010-11-03
• 發明（設計）人: 金成國
• 申請（專利權）人: 三星移動顯示器株式會社
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/02;G01M11/02
• 代理公司: 北京德琦知識產權代理有限公司 11018
• 代理人: 羅正云;王琦

1.一種單片測試裝置，用于測試單片基板，該單片基板包括：多個面板；多個第一導線，所述多個第一導線被按第一方向排列在所述多個面板之間以連接到所述多個面板中的相應面板上；以及多個第二導線，所述多個第二導線被按不同于所述第一方向的第二方向排列在所述多個面板之間，并且被連接到所述多個面板中的相應面板上，該單片測試裝置包括：

多個電壓施加單元，所述多個電壓施加單元被有選擇地分別連接到所述多個第一導線和所述多個第二導線上，以通過相應的第一導線和第二導線將第一電壓和第二電壓中被選定的那一個電壓施加到所述多個面板上；和

測試單元，該測試單元控制所述多個電壓施加單元，以有選擇地測量所述多個面板中的每個面板的導通電流和截止電流。

2.根據權利要求1所述的單片測試裝置，其中所述第一電壓是電源電壓，所述第二電壓是地電壓。

3.根據權利要求1所述的單片測試裝置，其中所述多個電壓施加單元中的每個電壓施加單元包括：

生成所述第一電壓的電源；

第一開關，該第一開關被有選擇地連接到所述多個第一導線和所述多個第二導線中的相應導線與所述電源之間；

第二開關，該第二開關被有選擇地連接到所述相應導線與所述第二電壓的施加端子之間。

4.根據權利要求1所述的單片測試裝置，其中在將反向偏壓施加到所述多個面板上的情況下，所述測試單元測量所述多個面板中的每個面板的截止電流。

5.根據權利要求1所述的單片測試裝置，其中在將偏壓施加到所述多個面板上的情況下，所述測試單元測量所述多個面板中的每個面板的導通電流。

6.根據權利要求5所述的單片測試裝置，其中所述測試單元在所述多個面板中檢測出所述截止電流等于或者大于一參考值的面板，并且當測量所述導通電流時，將所述第一電壓和所述第二電壓之一施加到與被檢測出的面板相對應的第一導線和第二導線上，以阻止電流流向被檢測出的面板。

7.根據權利要求1所述的單片測試裝置，其中所述測試單元是在從所述導通電流開始流動的時間點起經預定的穩定時段之后測量所述導通電流的。

8.根據權利要求1所述的單片測試裝置，其中所述測試單元包括：

多個電阻器，所述多個電阻器被分別連接到所述多個第二導線和所述多個電壓施加單元之間；

多個放大器，所述多個放大器將施加到所述多個電阻器上的相應電流放大并且輸出；

多個開關，所述多個開關被連接到所述多個放大器中各放大器的相應輸出端子上；

模擬/數字轉換器，該模擬/數字轉換器被連接到所述多個開關上，以將所述多個放大器的輸出轉換成數字信號；

電流讀取單元，該電流讀取單元讀取所述模擬/數字轉換器的輸出；和

開關控制器，該開關控制器生成開關控制信號，該開關控制信號根據所讀取的輸出來控制所述多個開關和所述多個電壓施加單元。

9.一種測試單片測試裝置的方法，該單片測試裝置包括：具有多個面板的單片基板；多個第一導線，所述多個第一導線在所述單片基板上被按第一方向排列在所述多個面板之間，并且被連接到所述多個面板中的相應面板上；多個第二導線，所述多個第二導線在所述單片基板上被按不同于所述第一方向的第二方向排列在所述多個面板之間，并且被連接到所述多個面板中的相應面板上，該方法包括：

在將反向偏壓經由所述多個第一和第二導線施加到所述多個面板上的情況下，測量所述多個面板中的每個面板的截止電流；并且

在將偏壓經由所述多個第一和第二導線施加到所述多個面板上的情況下，測量所述多個面板中被選定的那些面板的導通電流，其中選擇所述被選定的那些面板，以根據測量所述多個面板中的每個面板的截止電流來排除有故障的面板。

10.根據權利要求9所述的測試單片測試裝置的方法，其中所述測量導通電流包括：在所述多個面板中檢測出所述截止電流等于或者大于預定的參考值的面板，并且將第一電壓和第二電壓中的一個電壓施加到與被檢測出的面板相對應的第一導線和第二導線上，以阻止電流流向被檢測出的面板。

11.根據權利要求9所述的測試單片測試裝置的方法，其中所述測量導通電流是在從所述導通電流開始流動的那個時間點起經預定的穩定時段之后被執行的。