[發明專利]一種用于檢測觸控面板的線性度的方法

無效

• 申請號: 201010004048.1
• 申請日: 2010-01-18
• 公開（公告）號: CN101763196A
• 公開（公告）日: 2010-06-30
• 發明（設計）人: 羅梃方;范植順
• 申請（專利權）人: 友達光電股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 陳紅

技術領域

本發明涉及觸控面板的檢測技術，尤其涉及觸控面板的線性度的檢測技術。

背景技術

當前，越來越多的電子設備都采用觸控型的交互接口，以方便使用者靈活地輸入漢字、字母或者符號，以及選擇對應的功能菜單，從而避免因機械鍵盤所帶來的不良影響。在尺寸大小不同的觸控面板中，檢測面板的線性準確度是極為重要的，因為線性度不佳就意味著使用者在觸壓面板表面時會發生誤動作的情形。

在現有的檢測方法中，通常使用線性測試機的工作平臺，將觸控面板放置在平臺上，利用伺服電機和傳感器來進行線性度測試。然而，一方面，這種線性測試機價格昂貴，并且需要定期校驗觸控面板所需的壓力數值大小，操作流程相對比較復雜；另一方面，該方法的測試時間比較長，只適合于抽樣檢測，可能會忽略不符合要求的觸控面板。

發明內容

針對現有技術中檢測觸控面板的線性度時所存在的上述缺陷，本發明提供了一種用于檢測觸控面板線性度的方法，以方便快捷地完成線性度檢測，降低檢測成本并且縮短檢測時間。

根據本發明的一個方面，提供了一種用于檢測觸控面板的線性度的方法，包括以下步驟：

提供具有測試軌道的工作平臺；

將工作平臺疊放在觸控面板上；

放置測試球于測試軌道的一端；以及

沿著測試軌道，滾動測試球至測試軌道的另一端。

其中，使用金屬材質來制成測試球體。優選地，測試球與觸控面板的表面為點接觸方式，并且基于測試球的重量來產生的壓力數值在觸控面板允許的正常壓力范圍內。此外，測試球的直徑隨著觸控面板的尺寸大小變化而變化。

其中，測試軌道為一“S”形狀。

其中，將觸控面板設置在一機座的相應位置處。

其中，觸控面板應用于移動電話、PDA(Personal?DigitalAssistance，個人數字助理)、MP3、MP4、個人計算機或者筆記本電腦等電子設備。

采用本發明的用于檢測觸控面板線性度的方法，可以方便快捷地完成線性度檢測，降低檢測成本并且縮短檢測時間。此外，使用鋼球重量來控制觸控面板所獲得的下壓力，對于尺寸不同的觸控面板的線性度測試來說，調整方便并且下壓力數值恒定。

附圖說明

讀者在參照附圖閱讀了本發明的具體實施方式以后，將會更清楚地了解本發明的各個方面。其中，

圖1示出依據本發明的檢測方法來檢測觸控面板時的結構示意圖；以及

圖2示出依據本發明的檢測方法來檢測觸控面板的流程示意圖。

具體實施方式

下面參照附圖，對本發明的具體實施方式作進一步的詳細描述。

從構成材料的角度來看，觸控面板大致可以分為電阻式、電容式、超聲波式、光學(例如紅外線)式等幾種類型。以當前市場占有率最高的電阻式觸控面板為例，簡要說明基于觸控產生的下壓力來確定像素位置的具體實現原理：觸控裝置由上、下兩層電阻膜(即X層電阻膜與Y層電阻膜)以及一塊控制電路板構成。在X層電阻膜上，沿X軸方向設有一對由電阻膜連接的X電極，在X層電阻膜的最外側兩端分別為X+電極與X-電極；在Y層電阻膜上，沿Y軸方向設有一對由電阻膜連接的Y電極，在Y層電阻膜的最外側兩端分別為Y+電極與Y-電極。在X層電阻膜和Y層電阻膜上電極的一側交互施加一預定電壓，當觸壓兩層電阻膜外表面上的任意位置時，經由非通電的另一側電極來測量出由于兩電阻膜觸壓后的電壓值，以得到觸壓位置的X坐標和Y坐標。因此，使用者觸壓的位置與二維坐標系中的X坐標和Y坐標是一一對應的。

圖1示出依據本發明的檢測方法來檢測觸控面板時的結構示意圖。參照圖1，在機座10的相應位置處安裝觸控面板12。為了檢測觸控面板12表面的線性度，將工作平臺14(也可稱為檢測平臺)疊放在觸控面板12之上。其中，工作平臺14具有一測試軌道，優選地，該測試軌道為一S形狀。當鋼球16從測試軌道的一端滾動到另一端時，因鋼球16自身重量產生的下壓力施加于測試路徑上的每一測試點，該測試點對應于觸控面板上相應點的線性值。

本領域的普通技術人員應當理解，當鋼球16沿測試軌道滾動時，鋼球16與觸控面板的表面為點接觸方式，而且由鋼球16的重量產生的壓力數值必須在觸控面板所允許的正常壓力范圍內。此外，不同尺寸大小的觸控面板在進行線性度測試時，鋼球16的直徑可以隨之改變。例如，當檢測中的觸控面板尺寸變大時，可以換用直徑稍大的鋼球進行檢測；將檢測中的觸控面板尺寸變小時，則換用直徑稍小的鋼球以減小下壓力數值。