[發(fā)明專利]一種觸控面板測(cè)試裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010003188.7 | 申請(qǐng)日: | 2010-01-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101719040A | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-06-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張麗雯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 友達(dá)光電股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06F3/041 | 分類(lèi)號(hào): | G06F3/041 |
| 代理公司: | 北京律誠(chéng)同業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006 | 代理人: | 陳紅 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣新竹*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 面板 測(cè)試 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及觸控面板測(cè)試技術(shù),尤其涉及用于內(nèi)嵌式(in-cell)觸控面板的測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
當(dāng)前,隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展,越來(lái)越多的電子設(shè)備均采用觸控型的人機(jī)交互接口,以方便使用者靈活地選擇相應(yīng)的應(yīng)用功能。例如,在日常生活中,觸控式的操作行為已經(jīng)深深地滲透到手機(jī)、導(dǎo)航裝置、便攜式手持游戲機(jī)等諸多應(yīng)用領(lǐng)域。隨著觸控面板尺寸的大型化,此觸控式接口設(shè)計(jì)還可應(yīng)用于零售店、售票機(jī)、信息站、教育和培訓(xùn)領(lǐng)域等。
在現(xiàn)有技術(shù)中,從觸控感應(yīng)的設(shè)計(jì)角度來(lái)看,觸控面板可分為傳統(tǒng)的外掛式(on-cell)觸控面板以及新型的內(nèi)嵌式(in-cell)觸控面板兩大類(lèi)。不同于外掛式觸控面板,內(nèi)嵌式觸控面板一般將感應(yīng)組件內(nèi)嵌在觸控面板的陣列基板上,以便將觸控功能直接整合于面板的制造工藝中,而無(wú)需再添加一層觸控玻璃基板。
但是,對(duì)于內(nèi)嵌式觸控面板而言,如何精確地判斷面板中感應(yīng)組件的工作狀態(tài)是擺在技術(shù)人員面前的一項(xiàng)課題。這是因?yàn)椋坏┟姘迳系母袘?yīng)組件不能正常工作,將會(huì)給后續(xù)的制造工序造成原材料損失,增加了制造成本。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中觸控面板測(cè)試時(shí)所存在的上述缺陷,本發(fā)明提供了一種新型的觸控面板測(cè)試裝置。當(dāng)觸壓面板時(shí),利用感應(yīng)電流的數(shù)值大小可以快速診斷觸控面板中的感應(yīng)組件是否正常工作,并避免因感應(yīng)組件工作不正常而在后續(xù)制程中產(chǎn)生的原材料損失。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供了一種觸控面板測(cè)試裝置,至少包括:一觸控面板;多個(gè)觸控感應(yīng)線,設(shè)置在觸控面板上;多個(gè)測(cè)試點(diǎn),每一測(cè)試點(diǎn)電性連接至觸控感應(yīng)線的一個(gè)或者多個(gè);以及一電流源,電性連接至多個(gè)測(cè)試點(diǎn)中的一個(gè),其中,與測(cè)試點(diǎn)相連接的一個(gè)或者多個(gè)觸控感應(yīng)線將觸控面板劃分為多個(gè)區(qū)域,當(dāng)多個(gè)區(qū)域中的任一區(qū)域被觸壓時(shí),電流源獲取流過(guò)測(cè)試點(diǎn)的感應(yīng)電流。
優(yōu)選地,觸控面板是內(nèi)嵌式觸控面板。
優(yōu)選地,多個(gè)觸控感應(yīng)線中的任意兩個(gè)觸控感應(yīng)線彼此平行。
優(yōu)選地,多個(gè)區(qū)域中的每一區(qū)域的觸控感應(yīng)線電性連接至一共同節(jié)點(diǎn)。
優(yōu)選地,依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例,位于多個(gè)區(qū)域中的每一區(qū)域的觸控感應(yīng)線數(shù)量相同。依據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例,位于多個(gè)區(qū)域中的不同區(qū)域的觸控感應(yīng)線數(shù)量不同,并且,感應(yīng)電流的數(shù)值與觸控感應(yīng)線的數(shù)量成正比。
根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面,提供了一種觸控面板測(cè)試裝置,至少包括:一具有多個(gè)觸控感應(yīng)線的觸控面板,觸控感應(yīng)線的一個(gè)或多個(gè)將觸控面板劃分為多個(gè)區(qū)域;多個(gè)測(cè)試點(diǎn),每一測(cè)試點(diǎn)電性連接至多個(gè)區(qū)域的任一區(qū)域中的一個(gè)或者多個(gè)觸控感應(yīng)線,以及一電流源,電性連接至多個(gè)測(cè)試點(diǎn)中的一個(gè),其中,多個(gè)區(qū)域中的任一區(qū)域被觸壓時(shí),電流源獲取流過(guò)測(cè)試點(diǎn)的感應(yīng)電流。
優(yōu)選地,觸控面板是內(nèi)嵌式觸控面板。
優(yōu)選地,多個(gè)觸控感應(yīng)線中的任意兩個(gè)觸控感應(yīng)線彼此平行。
優(yōu)選地,多個(gè)區(qū)域中的每一區(qū)域的觸控感應(yīng)線電性連接至一共同節(jié)點(diǎn)。
優(yōu)選地,依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例,位于多個(gè)區(qū)域中的每一區(qū)域的觸控感應(yīng)線數(shù)量相同。依據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例,位于多個(gè)區(qū)域中的不同區(qū)域的觸控感應(yīng)線數(shù)量不同,并且,感應(yīng)電流的數(shù)值與觸控感應(yīng)線的數(shù)量成正比。
采用本發(fā)明的觸控面板測(cè)試裝置,當(dāng)觸壓面板時(shí),利用感應(yīng)電流的數(shù)值大小可以快速診斷觸控面板中的感應(yīng)組件是否正常工作,并避免因感應(yīng)組件工作不正常而在后續(xù)制程中產(chǎn)生的原材料損失。
附圖說(shuō)明
讀者在參照附圖閱讀了本發(fā)明的具體實(shí)施方式以后,將會(huì)更清楚地了解本發(fā)明的各個(gè)方面。其中,
圖1示出依據(jù)本發(fā)明的觸控面板測(cè)試裝置進(jìn)行面板cell段測(cè)試的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面參照附圖,對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。在下文中,相同的附圖標(biāo)記表示相同的部件或元件。
圖1示出依據(jù)本發(fā)明的觸控面板測(cè)試裝置進(jìn)行面板cell段測(cè)試的結(jié)構(gòu)示意圖。如前所述,內(nèi)嵌式(in-cell)觸控面板一般是將觸控功能直接整合于面板的制造工藝中,無(wú)需在陣列基板上再添加一層觸控玻璃基板。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于友達(dá)光電股份有限公司,未經(jīng)友達(dá)光電股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010003188.7/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類(lèi)專利
- 專利分類(lèi)
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F3-00 用于將所要處理的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成為計(jì)算機(jī)能夠處理的形式的輸入裝置;用于將數(shù)據(jù)從處理機(jī)傳送到輸出設(shè)備的輸出裝置,例如,接口裝置
G06F3-01 .用于用戶和計(jì)算機(jī)之間交互的輸入裝置或輸入和輸出組合裝置
G06F3-05 .在規(guī)定的時(shí)間間隔上,利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來(lái)自記錄載體的數(shù)字輸入,或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
G06F3-09 .到打字機(jī)上去的數(shù)字輸出
G06F3-12 .到打印裝置上去的數(shù)字輸出
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





