[發明專利]光學透鏡的聚光效率檢測裝置及其方法無效
| 申請號: | 201010002966.0 | 申請日: | 2010-01-15 |
| 公開(公告)號: | CN102128714A | 公開(公告)日: | 2011-07-20 |
| 發明(設計)人: | 李森田;曾衍彰;許晉維;鄭忠杰;陳昆峣;鄧元為 | 申請(專利權)人: | 華旭環能股份有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02;G02B27/00 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產權代理有限公司 72003 | 代理人: | 鄭小軍;馮志云 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 透鏡 聚光 效率 檢測 裝置 及其 方法 | ||
1.一種光學透鏡的聚光效率檢測裝置,至少包含:
一光源,用以提供一入射光束;
一分光器,用以接收該入射光束,并將該入射光束分光為一監測光束及一探測光束;
一雙軸移動平臺,用以放置一待測的光學透鏡,并控制該光學透鏡的平移位置;
一擴束器,設置于該分光器及該雙軸移動平臺間;
一孔徑光欄,設置于該擴束器及該雙軸移動平臺間;
一第一光感測器,用以接收該探測光束并測量該探測光束的光強度信號,其中該探測光束由該分光器經該擴束器及該孔徑光欄,再穿透該雙軸移動平臺上的該光學透鏡而至該第一光感測器;
一第二光感測器,用以接收該監測光束并測量該監測光束的光強度信號;以及
一處理器,連接該第二光感測器、該第一光感測器及該雙軸移動平臺,用以接收該監測光束的光強度信號、該探測光束的光強度信號及該光學透鏡的平移位置,并輸出該光學透鏡的二維空間各點和/或平均的聚光效率。
2.如權利要求1所述的光學透鏡的聚光效率檢測裝置,其中該光源為一激光光源。
3.如權利要求2所述的光學透鏡的聚光效率檢測裝置,其中該激光光源為一氦氖激光光源。
4.如權利要求1所述的光學透鏡的聚光效率檢測裝置,其中該雙軸移動平臺為一X軸-Y軸掃描器。
5.如權利要求1所述的光學透鏡的聚光效率檢測裝置,其中該第一光感測器及該第二光感測器均為一光功率計。
6.如權利要求1所述的光學透鏡的聚光效率檢測裝置,其中該探測光束的光強度信號包含背景環境光強度、全穿透光強度以及單位面積光強度。
7.如權利要求6所述的光學透鏡的聚光效率檢測裝置,其中該監測光束的光強度信號包含背景環境光強度、全穿透光強度以及單位面積光強度P2n。
8.如權利要求7所述的光學透鏡的聚光效率檢測裝置,其中該光學透鏡的聚光效率依方程式
取得。
9.如權利要求8所述的光學透鏡的聚光效率檢測裝置,其中該處理器還輸出一二維空間聚光效率關系圖。
10.一種光學透鏡的聚光效率檢測裝置,至少包含:
一光源,用以提供一入射光束;
一分光器,用以接收該入射光束,并將該入射光束分光為一監測光束及一探測光束;
一雙軸移動平臺,用以放置一待測的光學透鏡,并控制該光學透鏡的平移位置;
一第一光感測器,用以接收該探測光束并測量該探測光束的光強度信號,其中該探測光束由該分光器穿透該雙軸移動平臺上的該光學透鏡而至該第一光感測器;
一第二光感測器,用以接收該監測光束并測量該監測光束的光強度信號;以及
一處理器,連接該第二光感測器、該第一光感測器及該雙軸移動平臺,用以接收該監測光束的光強度信號、該探測光束的光強度信號及該光學透鏡的平移位置,并輸出該光學透鏡的二維空間各點和/或平均的聚光效率。
11.如權利要求10所述的光學透鏡的聚光效率檢測裝置,還包括:
一擴束器,設置于該分光器及該雙軸移動平臺間;以及
一孔徑光欄,設置于該擴束器及該雙軸移動平臺間;
其中,該探測光束由該分光器經該擴束器及該孔徑光欄,再穿透該雙軸移動平臺上的該光學透鏡而至該第一光感測器。
12.一種光學透鏡的聚光效率檢測方法,至少包含步驟:
(a)提供一入射光束;
(b)分光該入射光束,以分別產生一監測光束及一探測光束;
(c)接收該監測光束并測量該監測光束的光強度信號;
(d)擴束該探測光束,并使該探測光束再穿透一孔徑光欄;
(e)移動一待測的光學透鏡,使該探測光束通過該光學透鏡而聚光,同時記錄該光學透鏡的平移位置;
(f)接收該探測光束并測量該探測光束的光強度信號;以及
(g)依該監測光束的光強度信號、該探測光束的光強度信號及該光學透鏡的平移位置,計算并輸出該光學透鏡的二維空間各點和/或平均的聚光效率。
13.如權利要求12所述的光學透鏡的聚光效率檢測方法,其中該入射光束為一激光光束。
14.如權利要求13所述的光學透鏡的聚光效率檢測方法,其中該激光光束為一氦氖激光光束。
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