[發明專利]接觸式電子檢驗模塊

有效

• 申請號: 201010002403.1
• 申請日: 2010-01-20
• 公開（公告）號: CN102130390B
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: 蔡永基
• 申請（專利權）人: 蔡永基
• 主分類號: H01R13/24
• 分類號: H01R13/24;H01R13/40;H01R31/06;G01R1/04
• 代理公司: 北京市浩天知識產權代理事務所 11276
• 代理人: 劉云貴

技術領域

本發明關于一種接觸式電子檢驗模塊，尤指一種應用在接觸式集成電路 (IC)及其它電子產品檢驗設備的接觸式電子檢驗模塊。

背景技術

一般集成電路(IC)及其它電子產品制造完成時，必需經過多項檢驗， 以確保產品的良率?，F有的集成電路(IC)及其它電子產品的檢驗方式，主 要分為非接觸式檢驗及接觸式檢驗二種，非接觸式檢驗是應用光學設備檢 驗，接觸式檢驗則將集成電路或其它電子產品放置在檢測裝置上，通過檢測 裝置的探針(端子)與集成電路或其它電子產品的接點作接觸，藉此取得檢 驗數據，用以驗證其質量。

為了使接觸式檢驗設備可以適應多種集成電路(IC)及其它電子產品， 相關業者提出一種接觸式檢測裝置(模塊)?，F有的接觸式檢測裝置如圖1 所示，具有一矩形的載座10，在載座10設有多數個呈特定形式排列的通孔 101，各通孔101中植入多數個金屬球20，并在通孔101上端及下端分別設 有一上導接部30及一下導接部40，上導接部30的端面鍍設有金屬膜301， 下導接部40的端面結合有導電膠膜401。但，這種接觸式檢測裝置，通過 金屬膜301與集成電路或其它電子產品的接點作接觸，導致金屬膜301容易 被磨損；而且，當金屬膜301使用一段時間被磨損時，不容易實施更換及修 復，只能將整組檢測裝置淘汰，造成資源浪費、檢驗成本增加；另外，通過 多數個金屬球20接通上、下導接部30、40，容易產生多個縫隙而影響導電 性，繼而發生導電不良等問題，導致檢測結果的信賴度不佳。

如圖2所示，現有的另一種接觸式檢測裝置，采用沖壓制成的金屬探針 50，并將金屬探針50結合在載座10的通孔101中，使各個金屬探針50上 端501突出在載座10上，下端502與檢驗設備(例如計算機等)連接。這 種金屬探針50的上端501雖然不容易被磨損，而且可能可以被替換，但是 金屬探針50的彈性系數不足或結構設計不良，反而容易磨損集成電路或其 它電子產品的接點(例如磨損用以增進導接性的鍍層)，甚至于破壞集成電 路的接點。由此可見，現有應用在集成電路及其它電子產品的接觸式檢測裝 置，存在許多亟待改進的缺陷。

因此，如何發明出一種接觸式電子檢驗模塊，可以應用在集成電路(IC) 及其它電子產品的檢驗程序上，以使電子檢驗模塊的導接端子達到可以防止 被磨損、可以抽取替換、能保護集成電路及其它電子產品的接點、以及增進 導電性的效果，現有技術中尚未提出有效的解決方案。

發明內容

有鑒于上述現有技術的缺陷，本發明提供一種接觸式電子檢驗模塊，以 期達到導接端子可以防止被磨損、導接端子可以抽取替換、保護集成電路及 其它電子產品的接點、以及增進導電性的目的。

本發明的主要目的在提供一種接觸式電子檢驗模塊，其借著承載座及多 數個導接端子的結構設計，致使其導接端子具有優良的彈性系數，可以與集 成電路(IC)及其它電子產品的接點作接觸，并具有可與承載座分離的卡合 結構，進而達到導接端子可以防止被磨損、導接端子可以抽取替換、保護集 成電路及其它電子產品的接點、以及增進導電性的目的。

為達上述目的，本發明接觸式電子檢驗模塊的實施內容包含有：一承載 座，該承載座上設有多數個端子孔；及多數個分別結合在端子孔中的導接端 子，該導接端子的二端分別露出在承載座的上、下面，其中：該導接端子包 含一彈性柱，及一條或一條以上埋設在彈性柱中央的導電絲，該導電絲包含 中間的一段彈性部及二端的導接部，并使二端的導接部露出在彈性柱的二 端。

上述該導接端子的導電絲的彈性部為螺旋狀結構，該導接部分別彎折在 彈性柱二端的片體；又，該導接端子的彈性柱為硅酮(Silicone)基質或高 分子聚合物所構成；該導接端子的彈性柱為具有一上端面、一下端面及一側 面的柱體，該上端面露出在承載座上面，該下端面露出在承載座下面，該側 面設有一卡合在承載座端子孔中的凸部，如此使導電絲二端的導接部分別露 出在彈性柱的上端面與下端面。另者，該承載座的端子孔靠近上端設有一往 內縮的階級面，該彈性柱的凸部下端抵靠在階級面上；該承載座上面可結合 有一固定組件，固定組件設有對應端子孔的通孔，使彈性柱的上端面穿過通 孔露出在固定組件上面，并使該通孔的邊緣抵壓在彈性柱的凸部上端；該承 載座上面設有一凹槽，使固定組件結合在凹槽中；該承載座上面可設有一定 位凸部，該固定組件設有一與定位凸部結合的定位凹部。