[發(fā)明專利]使用具有能更換的子模塊的傳感器的光纖電流傳感

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200980162796.8
• 申請(qǐng)日: 2009-12-11
• 公開（公告）號(hào): CN102667502A
• 公開（公告）日: 2012-09-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: K.博納特;A.弗蘭克;R.維斯特
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: ABB研究有限公司
• 主分類號(hào): G01R15/24
• 分類號(hào): G01R15/24;G01R35/00
• 代理公司: 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 張金金;朱海煜

1.一種用于操作測(cè)量導(dǎo)體（12）中的電流I的光纖電流傳感器的方法，所述電流傳感器包括：

傳感器頭（2），其具有纏繞所述導(dǎo)體（12）的傳感光纖（11）和連接到所述傳感光纖（11）的延遲器（10），

測(cè)量單元（1），其包括光源（3）和光檢測(cè)器（7），以及

保偏光纖（15），其將所述傳感器頭（2）連接到所述測(cè)量單元（1），

所述方法包括以下步驟：

將來自所述光源（3）的光發(fā)送通過所述傳感器頭（2），

通過所述光檢測(cè)器（7）測(cè)量信號(hào)S，所述信號(hào)S由從所述傳感器頭（2）返回的光得到，以及

所述方法的特征在于以下步驟：

從???????????????????????????????????????????????計(jì)算所述電流I

其中

f_e’(S)是所述測(cè)量單元（1）的標(biāo)度函數(shù)，其取決于所述信號(hào)S，

f_e’(S)是所述傳感器頭（2）的標(biāo)度函數(shù)，其取決于所述信號(hào)S，并且

g是與所述信號(hào)S無關(guān)的常數(shù)。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括獨(dú)立于所述傳感器頭標(biāo)度函數(shù)f_s’確定所述測(cè)量單元標(biāo)度函數(shù)f_e’的步驟。

3.如權(quán)利要求1-2中任一項(xiàng)所述的方法，其中所述測(cè)量單元標(biāo)度函數(shù)f_e’是所述信號(hào)S以及溫度T_e的函數(shù)，其中所述測(cè)量單元標(biāo)度函數(shù)f_e’通過以下來確定：

對(duì)于至少一個(gè)電流值，測(cè)量在給定溫度T_o作為電流的函數(shù)的所述信號(hào)S，以便獲取所述測(cè)量單元標(biāo)度函數(shù)f_e’(S,?T_o)，

對(duì)于除所述給定溫度T_o以外的至少一個(gè)溫度，在給定電流Io測(cè)量所述信號(hào)S，以便獲取函數(shù)f_e’(S_o,?T_e)，以及

由估算所述測(cè)量單元標(biāo)度函數(shù)f_e’。

4.如權(quán)利要求1或2中任一項(xiàng)所述的方法，其中所述測(cè)量單元標(biāo)度函數(shù)f_e’是所述信號(hào)S以及溫度T_e的函數(shù)，其中所述測(cè)量單元標(biāo)度函數(shù)f_e’通過以下來確定：

對(duì)于多個(gè)電流和溫度值，測(cè)量所述信號(hào)S的值，以及

將所述測(cè)量單元標(biāo)度函數(shù)f_e’的值存儲(chǔ)在查找表中。

5.如權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的方法，其包括通過以下來確定所述測(cè)量單元標(biāo)度函數(shù)f_e’的步驟：

將所述測(cè)量單元（1）連接到參考傳感器頭（2），其具有已知的傳感器頭標(biāo)度函數(shù)f_s’，以及

對(duì)于由所述參考傳感器頭（2）傳感的至少一個(gè)電流來測(cè)量所述信號(hào)S。

6.如權(quán)利要求5所述的方法，其中所述參考傳感器頭（2）的傳感器頭標(biāo)度函數(shù)f_s’等于1，其與所述電流I無關(guān)。

7.如權(quán)利要求5或6中任一項(xiàng)所述的方法，其中所述測(cè)量單元（1）包括相位調(diào)制器（4，18），并且其中所述測(cè)量單元標(biāo)度函數(shù)f_e’通過以下來確定：

將所述測(cè)量單元（1）連接到所述參考傳感器頭（2），

操作所述調(diào)制器（4，18）用于在由所述測(cè)量單元（1）產(chǎn)生的光偏振之間引入相移，由此在所述光檢測(cè)器（7）處產(chǎn)生干涉條紋，以及

測(cè)量所述干涉條紋的干涉條紋可見度（v）。

8.如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的方法，其中所述測(cè)量單元標(biāo)度函數(shù)f_e’由估算，其中，并且

，

，以及

，

其中k是常數(shù)并且h是測(cè)量的參數(shù)。

9.如權(quán)利要求7和8中任一項(xiàng)所述的方法，其中從所述干涉條紋可見度（v）測(cè)量所述測(cè)量的參數(shù)h。