[發明專利]用于處理樣品處理裝置的系統和方法

有效

• 申請號: 200980162435.3
• 申請日: 2009-11-13
• 公開（公告）號: CN102667488A
• 公開（公告）日: 2012-09-12
• 發明（設計）人: 巴里·W·羅博萊;威廉姆·拜丁漢姆;彼得·D·陸德外斯;杰弗里·C·佩德森
• 申請（專利權）人: 3M創新有限公司
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00;B01L3/00;B01L7/00
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 梁曉廣;關兆輝

1.一種處理樣品處理裝置的系統，所述系統包括：

基座板，所述基座板以可操作方式連接到驅動系統并且具有第一表面，其中，所述驅動系統使所述基座板繞旋轉軸旋轉，并且其中，所述旋轉軸限定z軸；

覆蓋件，所述覆蓋件適于面向所述基座板的所述第一表面設置，所述覆蓋件包括第一凸起；

外殼，所述外殼包括能夠相對于所述基座板而在打開位置和關閉位置之間移動的部分，在所述打開位置中，所述覆蓋件未被連接到所述基座板，在所述關閉位置中，所述覆蓋件被連接到所述基座板，所述部分包括第二凸起，所述第一凸起和所述第二凸起適于當所述部分處于所述打開位置時被耦合在一起，并且當所述部分處于所述關閉位置時彼此脫離，使得當所述部分處于所述關閉位置并且所述覆蓋件被連接到所述基座板時，所述覆蓋件能夠與所述基座板一起繞所述旋轉軸旋轉；以及

樣品處理裝置，所述樣品處理裝置包含至少一個處理室，并且適于被設置在所述基座板和所述覆蓋件之間，當所述樣品處理裝置被連接到所述基座板時，所述樣品處理裝置能夠與所述基座板一起繞所述旋轉軸旋轉。

2.根據權利要求1所述的系統，其中，所述第一凸起包括第一徑向凸起，所述第一徑向凸起在徑向方向延伸。

3.根據權利要求1或2所述的系統，其中，所述第二凸起包括第二徑向凸起，所述第二徑向凸起在徑向方向延伸。

4.根據權利要求1-3中任一項所述的系統，其中，所述外殼的所述部分包括第一部分，所述第一部分能夠相對于所述外殼的第二部分移動，并且其中，所述基座板被設置在所述外殼的所述第二部分中。

5.根據權利要求1-4中任一項所述的系統，其中，所述外殼的所述部分能夠相對于所述基座板以樞轉方式移動。

6.根據權利要求1-5中任一項所述的系統，其中，所述外殼的所述部分能夠相對于所述基座板以滑動方式移動。

7.根據權利要求1-6中任一項所述的系統，其中，所述外殼的所述部分能夠通過桁架系統相對于所述基座板移動。

8.根據權利要求1-7中任一項所述的系統，其中，所述樣品處理裝置適于被設置在所述基座板和所述覆蓋件之間。

9.根據權利要求1-8中任一項所述的系統，其中，所述第一凸起在與所述z軸正交的平面中沿第一方向延伸第一距離，并且所述第二凸起在基本平行于所述第一方向并且與之相對的第二方向延伸第二距離，使得所述第一凸起和所述第二凸起交搭。

10.根據權利要求1-9中任一項所述的系統，其中，所述第一凸起包括離所述覆蓋件的中心第一距離設置的第一邊緣，其中，所述第二凸起包括離所述覆蓋件的所述中心第二距離設置的第二邊緣，并且其中所述第二距離大于所述第一距離。

11.根據權利要求1-10中任一項所述的系統，其中，所述覆蓋件為圓環形狀，其中所述覆蓋件的所述第一凸起包括第一徑向凸起，所述第一徑向凸起徑向向內延伸并限定從所述覆蓋件的中心測量的內半徑，并且其中所述第二凸起包括第二徑向凸起，所述第二徑向凸起徑向向外延伸并限定從所述覆蓋件的中心測量的外半徑，并且其中所述外半徑大于所述內半徑。

12.根據權利要求1-11中任一項所述的系統，其中當所述外殼的所述部分處于所述關閉位置時，所述第二凸起與所述第一凸起間隔一定距離，使得所述覆蓋件能夠與所述基座板一起旋轉。

13.根據權利要求1-12中任一項所述的系統，其中，當將所述外殼的所述部分從所述關閉位置移動至所述打開位置時，所述第二凸起能夠移動至接觸所述第一凸起。

14.根據權利要求1-13中任一項所述的系統，其中當將所述外殼的所述部分從所述關閉位置移動至所述打開位置時，所述第二凸起適于通過嚙合所述第一凸起而拾取所述覆蓋件。

15.根據權利要求1-14中任一項所述的系統，其中當所述外殼的所述部分處于所述打開位置時，所述第二凸起適于保持所述覆蓋件。

16.根據權利要求1-15中任一項所述的系統，其中所述覆蓋件適于在不利用額外的工具的情況下實現以下至少之一：連接到所述外殼的所述部分，和從所述外殼的所述部分脫離。