[發明專利]通過氣相接枝涂布羥基化表面有效
| 申請號: | 200980156921.4 | 申請日: | 2009-12-16 |
| 公開(公告)號: | CN102317364A | 公開(公告)日: | 2012-01-11 |
| 發明(設計)人: | 莫藤·梅爾達爾;馬納特·雷尼爾;斯提恩·維斯博格 | 申請(專利權)人: | 嘉士伯有限公司 |
| 主分類號: | C08L1/10 | 分類號: | C08L1/10;C08B3/08;C08J7/16;D06M13/00 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產權代理有限公司 72003 | 代理人: | 吳小瑛;任曉華 |
| 地址: | 丹麥哥*** | 國省代碼: | 丹麥;DK |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 通過 相接 枝涂布 羥基 表面 | ||
1.一種用酰基化試劑、甲硅烷基化試劑和/或烷基化試劑中的至少一種化合物涂布材料的羥基化表面,從而在所述材料的表面提供酰基、甲硅烷基和/或烷基的方法,所述方法包括以下步驟:
a)提供具有羥基化表面的材料,
b)提供選自以下試劑中的至少一種:酰基化試劑、甲硅烷基化試劑和/或烷基化試劑,
其中,所述酰基化試劑選自下式化合物:
其中X選自:
●鹵素,
●OTf,
●OMs,
●混合碳酸酐,
●混合酸酐,
●咪唑鎓鹽,
其中R1(acy)、R2(acy)和R3(acy)選自H、分子量小于150的芳基、烷基和烯基,
其中所述烷基化試劑選自下式化合物:
其中X選自:
●鹵素,
●磺酸鹽,其包括Tf和Ms,和
●OCOR4,
其中R4是低級烷基、氟代烷基或烯基,且
其中R1(alk)、R2(alk)和R3(alk)選自H、分子量小于150的烷基、芳基、氟代烷基和烯基,
其中所述甲硅烷基化試劑選自下式化合物:
其中X選自:
●鹵素,
●OSO2R4,
●NR4R4,和
●OR4,
其中R4是H或低級烷基、氟代烷基或烯基,且
其中R1(sil)、R2(sil)和R3(sil)選自H、分子量小于150的苯基、烷基和烯基,
c)使所述具有羥基化表面的材料與選自以下試劑中的至少一種接觸:酰基化試劑、甲硅烷基化試劑和/或烷基化試劑,其中所述試劑保持為氣相,以及
d)獲得其表面包含-O-共價連接的殘基的材料,所述殘基包括酰基、甲硅烷基和/或烷基。
2.如權利要求1所述的方法,其中所述混合碳酸酐選自式OCO2R4表示的化合物,其中R4選自:低級烷基、氟代烷基或烯基。
3.如前述權利要求中任一項所述的方法,其中所述混合酸酐選自式OCOR4表示的化合物,其中R4選自:低級烷基、氟代烷基或烯基。
4.如前述權利要求中任一項所述的方法,其中所述包括Tf和Ms的磺酸鹽選自式OSO2R4表示的化合物,其中R4選自:低級烷基、氟代烷基或烯基。
5.如前述權利要求中任一項所述的方法,其中所述酰基化試劑選自下式化合物:
其中X=F、Cl、Br、OTf(三氟甲磺酰基)、OMs(甲磺酰基)、OCO2R、OCOR或咪唑鎓鹽,其中R是小分子烷基、氟代烷基或烯基,且其中R1、R2和R3選自H、分子量小于150的芳基、烷基和烯基。
6.如前述權利要求中任一項所述的方法,其中所述酰基化試劑選自下式化合物:
其中X=F、Cl或Br,且R1=H、CH3。
7.如前述權利要求中任一項所述的方法,其中所述甲硅烷基化試劑選自:
其中X=Cl、Br、I、OSO2R、NRR、OR,其中R是H或小分子烷基、氟代烷基或烯基,且其中R1、R2和R3選自H、分子量小于150的苯基、烷基和烯基。
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