[發明專利]天線升降機及電磁波測量系統有效
| 申請號: | 200980156722.3 | 申請日: | 2009-02-27 |
| 公開(公告)號: | CN102317799A | 公開(公告)日: | 2012-01-11 |
| 發明(設計)人: | 鈴木賢彌;佐藤敏勝 | 申請(專利權)人: | NEC東金株式會社 |
| 主分類號: | G01R29/10 | 分類號: | G01R29/10;H01Q3/02 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 雒運樸 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 天線 升降機 電磁波 測量 系統 | ||
技術領域
本發明涉及一種天線升降機及具備該天線升降機的電磁波測量系統。
背景技術
為了對電子儀器的電磁妨害波進行評價,進行從該電子儀器發出的電磁波的測量。該測量是在電波暗室內或瞄準器(open?sight)進行的。作為在電磁波測量中使用的裝置或系統,例如有專利文獻1~3公開的技術。但是,專利文獻1~3公開的裝置或系統具有無法調整天線的仰角的問題。
相對于此,專利文獻4公開的裝置具備對應于天線的垂直位置來自動調整天線的仰角的機構。
專利文獻1:日本特開2007-033254號公報
專利文獻2:日本特開平08-146063號公報
專利文獻3:日本實公平03-006013號公報
專利文獻4:美國專利第5379048號公報
但是,在專利文獻4的測量系統中,由于只能調整確定的仰角,所以存在調整不充分的情況。另外,在專利文獻4的測量系統中,由于無法測量高度有較大不同的被測量儀器,所以必須對每個被測量儀器準備測量系統。
發明內容
因此,本發明的目的在于提供一種具備可以更加柔軟地調整仰角的機構的天線升降機。
本發明的一方面提供一種天線升降機,其具備天線單元、使該天線單元在垂直方向升降的升降機構,其中,所述天線單元具備天線和仰角調整機構,所述仰角調整機構被構成為在與所述升降機構使所述天線單元的升降獨立開來的狀態下,來調整所述天線的仰角。
發明效果
在現有技術中,由于天線的升降動作和仰角調整是關聯的,所以若不正確設定它們的關系,在天線的指向性極高時等就不能進行正確的測定。相對于此,根據本發明,由于可以獨立控制天線的升降動作和仰角調整,所以在任意的高度都可以將仰角調整為最貼切的狀態。如此,根據本發明,可以進行柔軟的仰角調整,因此,可以進行高精度的測定。此外,根據本發明,由于可以作為獨立于高度位置的值來調整仰角,所以即使對于高度不同的被測量儀器,也可以由一個天線升降機應對。
附圖說明
圖1是示意表示具備本發明的實施方式的天線升降機的電磁波測量系統的圖。
圖2是示意表示圖1的天線升降機的側視圖。
圖3是示意表示圖2的天線升降機的主視圖,但省略了天線。
圖4是示意表示在圖2的天線升降機中包含的升降機構的一部分和天線單元的放大立體圖。
圖5是示意表示在圖3的天線升降機中包含的偏振波角調整機構和天線單元的放大圖,但省略了天線。
符號說明
100??天線升降機
110??升降機構
112??天線桿
114??上側部件
116??下側部件
118??上側滑輪
120??下側滑輪
122??帶
124??齒輪箱
126??電動機
128??基體
128a?孔
130??天線單元
140??天線
150??天線支承機構
152??臂
154??保持部件
156??軸
158??水平儀
160??仰角調整機構
162??仰角調整桿
162a?保持孔
164??滑塊
166??進給螺母
168??進給絲杠
168a?滑塊孔
170??引導柱
172??齒輪箱
174??電動機
180??偏振波調整機構
182??偏振波調整桿
184??線性促動器
200??旋轉臺
300??被測量儀器(EUT)
具體實施方式
參考圖1,本發明的實施方式的電磁波測量系統具備天線升降機100以及與天線升降機100分開配置的旋轉臺200。在旋轉臺200上搭載有被測量儀器(EUT)300。
如圖2以及圖3所示,天線升降機100具備天線單元130以及使天線單元130沿垂直方向升降的升降機構110。
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