[發明專利]設有發射源監測器的吸收光學探測器

無效

• 申請號: 200980155548.0
• 申請日: 2009-12-15
• 公開（公告）號: CN102301224A
• 公開（公告）日: 2011-12-28
• 發明（設計）人: S·逖斯蘭德;M·休伯特;L·洛克斯;F·勒韋薩
• 申請（專利權）人: 西利奧斯技術公司
• 主分類號: G01N21/85
• 分類號: G01N21/85
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 李麗

1.光學探測器，其用于吸收測量，以產生吸收值Am，所述光學探測器包括分析單元(CA)，所述分析單元包括發射模塊(LED、F1、HD)和適于產生檢測信號(DS)的檢測模塊(H1、D1)，該光學探測器另外包括適于產生監測信號(MS)的監測單元(CM)，其特征在于，所述監測單元設置在連接所述發射模塊至所述檢測模塊的光路上。

2.如權利要求1所述的光學探測器，其特征在于，所述分析單元(CA)和監測單元(CM)每個均呈具有工作面的密封體的形式。

3.如權利要求2所述的光學探測器，其特征在于，所述發射模塊包括位于擴散窗(HD)后的光源(LED)，所述擴散窗出現在所述分析模塊(CA)的所述工作面上。

4.如權利要求3所述的光學探測器，其特征在于，所述檢測模塊包括位于第一窗孔(H1)后的第一檢測器(D1)，所述第一窗孔出現在所述分析模塊(CA)的所述工作面上。

5.如權利要求4所述的光學探測器，其特征在于，所述監測單元(CM)包括位于部分反射的第二窗孔(H2)后的第二檢測器(D2)，所述第二窗孔出現在所述監測單元的工作面上。

6.如權利要求5所述的光學探測器，其特征在于，所述第一和第二這兩個檢測器(D1、D2)是相同的。

7.如權利要求5或6所述的光學探測器，其特征在于，所述分析單元(CA)和監測單元(CM)通過連接部件(L1、L2)相連接，所述分析單元的工作面和所述監測單元的工作面相對。

8.如權利要求7所述的光學探測器，其特征在于，所述第二窗孔(H2)因此設置成該第二窗孔將來自所述光源(LED)的光束部分地朝所述第一窗孔(H1)的方向反射。

9.如上述權利要求中任一項所述的光學探測器，其特征在于，所述光學探測器另外包括控制回路(CC)，用以利用所述監測信號(MS)通過加權所述檢測信號(DS)產生測量信號Qm。

10.如權利要求9所述的光學探測器，其特征在于，所述測量信號Qm等于所述檢測信號(DS)與所述監測信號(MS)之比。

11.如權利要求10所述的光學探測器，其特征在于，所述控制回路(CC)存儲有以下值：

-參考測量值Qr；

-參考吸收值Ar；

-特征長度Lc；

術語Ln表示自然對數，

所述吸收值Am由以下表達式得出：

Am＝Ar-(Ln(((Qm-Qr)/Qr)+1)/Lc)

12.如權利要求11所述的光學探測器，其特征在于，所述控制回路(CC)設有溫度補償。

13.如權利要求12所述的光學探測器，其特征在于，所述溫度補償通過兩個常數K1、K2、校準溫度θ₀、和實現測量的溫度θ利用以下表達式實現：