[發明專利]計算X線斷層照相系統中的投射數據的壓縮和存儲

無效

• 申請號: 200980153075.0
• 申請日: 2009-09-29
• 公開（公告）號: CN102264299A
• 公開（公告）日: 2011-11-30
• 發明（設計）人: 阿爾伯特·W·魏格納;卡爾·R·柯勞福;凌一
• 申請（專利權）人: 信飛系統公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 王茂華

1.在計算X線斷層照相系統中的一種方法，所述計算X線斷層照相系統包括靜止部分、安裝以用于圍繞待檢查的對象進行旋轉的可旋轉部分以及所述靜止部分與所述可旋轉部分之間的接口，所述可旋轉部分包括用于檢測穿過所述對象的輻射的傳感器陣列，所述傳感器陣列產生多個投射數據組，其中每個投射數據組包括在數據獲取周期期間針對相應視圖而獲取的采樣的陣列，所述方法包括步驟：

(a)壓縮每個投射數據組的所述采樣以形成已壓縮采樣，其中每個組的所述已壓縮采樣被布置在至少一個已壓縮分組中，其中每個已壓縮分組包含所述投射數據的相應部分的所述已壓縮采樣；

(b)將針對所述多個投射數據組的多個所述已壓縮分組存儲在與所述可旋轉部分連接并且隨所述可旋轉部分旋轉的存儲設備中，其中每個所述已壓縮分組被存儲在所述存儲設備中的、在可控的時間段期間基于分組位置參數可訪問的相應位置；

(c)響應于數據訪問命令，根據所述分組位置參數從所述存儲設備中的所述相應位置取回至少一個已壓縮分組；

(d)以一個數據傳送速率通過所述接口的通信通道將從所述存儲設備取回的所述已壓縮分組傳送至所述靜止部分上的接收器；

(e)對接收到的所述已壓縮分組的所述已壓縮采樣進行解壓縮，以形成所述投射數據的所述相應部分的解壓縮采樣；以及

(f)將所述解壓縮采樣提供給圖像重構處理器以用于對所述對象的圖像的后續重構。

2.根據權利要求1所述的方法，其中所述投射數據的特定部分被提供給所述圖像重構處理器以用于重構所述圖像，所述方法還包括：

響應于來自所述圖像重構處理器的針對所述投射數據的所述特定部分的請求而生成所述數據訪問命令；以及

應用步驟(c)到(f)，其中所述取回的步驟被應用以響應于所述數據訪問命令而從所述存儲設備取回與所述投射數據的所述特定部分相對應的所述已壓縮分組，其中所述解壓縮的步驟形成與所述投射數據的所述特定部分相對應的所述解壓縮采樣。

3.根據權利要求2所述的方法，其中所述生成所述數據訪問命令的步驟開始于所述數據獲取周期之后。

4.根據權利要求1所述的方法，其中所述壓縮的步驟還包括：

計算多個成對相應采樣之間的多個差值，以形成所述投射數據組的多個差值采樣；以及

對所述多個差值采樣進行編碼，以形成所述已壓縮分組。

5.根據權利要求4所述的方法，其中所述計算多個差值的步驟還包括選擇，所述方法還包括：

計算與針對至少一個投射數據組的至少兩個備選差值類型相對應的差值，以形成針對每個備選差值類型的差值采樣組；

確定用于表示每個差值采樣組的多個比特；以及

選擇最小數目的比特可表示的差值采樣組以形成選定的差值采樣組，其中所述編碼的步驟被應用于所述選定的差值采樣組以形成所述已壓縮分組。

6.根據權利要求5所述的方法，其中所述備選差值類型包括逐個采樣差值類型、逐行差值類型以及逐個投射差值類型，其中計算與至少兩個備選差值類型對應的差值的步驟對所述采樣的陣列應用以下步驟中的至少兩個步驟：

計算來自所述陣列的每行的連續采樣之間的差值，以形成逐個采樣的差值采樣的組；

計算來自所述陣列的連續行中的相應位置的采樣之間的差值，以形成逐行差值采樣的組；以及

計算來自所述陣列中以及針對先前投射數據組的先前采樣陣列中的相應位置的采樣之間的差值，以形成逐個投射的差值采樣的組。

7.根據權利要求4所述的方法，其中所述壓縮的步驟還包括在計算多個差值的步驟之前衰減所述采樣，所述衰減還包括：

在存儲器中設置衰減分布的一個或多個參數，其中所述衰減分布是采樣坐標的函數并且規定了多個衰減值，其中所述衰減值小于或等于1；以及

根據所述衰減分布來衰減所述陣列的所述采樣以形成幅度小于或等于所述采樣的原始幅度的已衰減采樣，其中所述計算多個差值的步驟被應用于所述已衰減采樣。

8.根據權利要求1所述的方法，其中所述取回的步驟響應于根據針對存儲設備訪問的工業標準協議的數據訪問命令。

9.根據權利要求1所述的方法，還包括：

維持訪問陣列，其包含與所述多個已壓縮分組相對應的多個數據訪問參數以用于所述取回的步驟。