[發明專利]信號處理電路以及光盤再生裝置

無效

• 申請號: 200980152497.6
• 申請日: 2009-10-19
• 公開（公告）號: CN102265340A
• 公開（公告）日: 2011-11-30
• 發明（設計）人: 菊本佳祐;織田剛;岡佳典
• 申請（專利權）人: 松下電器產業株式會社
• 主分類號: G11B7/085
• 分類號: G11B7/085;G11B7/004;G11B7/09
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 徐殿軍

1.一種信號處理電路，包括跟蹤極性決定部，該跟蹤極性決定部，決定對光盤進行跟蹤控制時的極性，該光盤具有槽軌以及岸軌，在記錄有數據的所述槽軌形成有被頻率調制或相位調制的擺動，該被頻率調制或相位調制的擺動表示地址信息，

所述跟蹤極性決定部，包括：

二值化擺動信號生成部，生成對應于所述擺動的形狀的擺動信號，根據所述擺動信號的值是否超過閾值，生成二值化擺動信號；

特征量測定部，測定由所述二值化擺動信號生成部生成的二值化擺動信號的特征量；

判別部，判別由所述特征量測定部測定的所述二值化擺動信號的特征量是否具有規定的特征；以及

極性決定部，根據由所述判別部判別的結果，決定所述極性。

2.如權利要求1所述的信號處理電路，

所述特征量測定部，

測定所述二值化擺動信號的周期，以作為所述二值化擺動信號的特征量。

3.如權利要求1所述的信號處理電路，

所述特征量測定部，

測定所述二值化擺動信號的占空比，以作為所述二值化擺動信號的特征量，所述二值化擺動信號的占空比是，在規定的周期中所述二值化擺動信號為高電平的值的時間和在所述規定的周期中所述二值化擺動信號為低電平的值的時間的比。

4.如權利要求1所述的信號處理電路，

所述特征量測定部，

測定在規定時間內所述二值化擺動信號為高電平的值的時間的最長時間或最短時間，以作為所述二值化擺動信號的特征量。

5.如權利要求1所述的信號處理電路，

所述特征量測定部，

測定在規定時間內所述二值化擺動信號為低電平的值的時間的最長時間或最短時間，以作為所述二值化擺動信號的特征量。

6.如權利要求1所述的信號處理電路，

所述特征量測定部，

測定上升的次數或下降的次數，以作為所述二值化擺動信號的特征量，所述上升是指，在規定時間內所述二值化擺動信號成為高電平的值之時，所述下降是指，在規定時間內所述二值化擺動信號成為低電平的值之時。

7.一種光盤再生裝置，包括：

光拾取部，從光盤讀出進行跟蹤控制所需要的信息，該光盤具有槽軌以及岸軌，在記錄有數據的所述槽軌形成有被頻率調制或相位調制的擺動，該被頻率調制或相位調制的擺動表示數字信息；

跟蹤極性決定部，根據所述光拾取部讀出的信息，決定進行跟蹤控制時的極性；以及

驅動部，通過以由所述跟蹤極性決定部決定的跟蹤控制的極性而生成的控制信號，進行所述光拾取部的跟蹤控制，

所述跟蹤極性決定部，具有：

二值化擺動信號生成部，根據所述光拾取部讀出的信息，生成對應于所述擺動的形狀的擺動信號，根據所述擺動信號的值是否超過閾值，生成二值化擺動信號；

特征量測定部，測定由所述二值化擺動信號生成部生成的二值化擺動信號的特征量；

判別部，判別由所述特征量測定部測定的所述二值化擺動信號的特征量是否具有規定的特征；以及

極性決定部，根據由所述判別部判別的結果，決定所述極性。

8.如權利要求7所述的光盤再生裝置，

所述特征量測定部，

測定所述二值化擺動信號的周期，以作為所述二值化擺動信號的特征量。

9.如權利要求7所述的光盤再生裝置，

所述特征量測定部，

測定所述二值化擺動信號的占空比，以作為所述二值化擺動信號的特征量，所述二值化擺動信號的占空比是，在規定的周期中所述二值化擺動信號為高電平的值的時間和在所述規定的周期中所述二值化擺動信號為低電平的值的時間的比。

10.如權利要求7所述的光盤再生裝置，

所述特征量測定部，

測定在規定時間內所述二值化擺動信號為高電平的值的時間的最長時間或最短時間，以作為所述二值化擺動信號的特征量。

11.如權利要求7所述的光盤再生裝置，

所述特征量測定部，

測定在規定時間內所述二值化擺動信號為低電平的值的時間的最長時間或最短時間，以作為所述二值化擺動信號的特征量。