[發明專利]用于檢測材料的加熱爐以及利用所述加熱爐的表征方法

無效

• 申請號: 200980150081.0
• 申請日: 2009-11-13
• 公開（公告）號: CN102246026A
• 公開（公告）日: 2011-11-16
• 發明（設計）人: J-P·培爾;X·熱南
• 申請（專利權）人: 原子能和輔助替代能源委員會
• 主分類號: G01N25/50
• 分類號: G01N25/50
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 劉興鵬

1.一種用于檢測材料的加熱爐，其包括：外殼(1，3)；用于在上表面接收材料樣品的托盤(3)；以及第一可調節加熱裝置(7，9)，該第一可調節加熱裝置為全方位的并且圍繞外殼的至少一部分分布，其特征在于，該加熱爐進一步包括第二可調節加熱裝置(10)，第二可調節加熱裝置(10)具有限定的幾何形狀、穿過托盤的上表面并一直延伸到用于接收樣品(23)的位置中。

2.根據權利要求1的用于檢測材料的加熱爐，其特征在于，托盤形成所述外殼的一部分，所述外殼還由設置在托盤上并可與托盤分離的鐘形件(1)組成，第一全方位加熱裝置在托盤(3)上圍繞鐘形件(1)的下部分布，且第二加熱裝置延伸超出托盤的上表面。

3.根據權利要求2的用于檢測材料的加熱爐，其特征在于，它包括螺釘，用于將鐘形件(1)以密封方式裝配在托盤(3)上，以及包括抵靠螺釘裝配的彈簧(17)，以便在外殼內發生高壓時，容許在鐘形件和托盤之間有間隔。

4.根據權利要求1-3中任一項的用于檢測材料的加熱爐，其特征在于，第二可調節加熱裝置(10)由延伸超出托盤上表面的尖的細絲構成。

5.一種在機械能的影響下利用加熱來表征材料的方法，其特征在于，它包括：估計通過所述機械能在材料中所消耗的能量的量；將材料樣品放入根據前述權利要求中任一項的加熱爐內；以及通過第二加熱裝置將所述量的能量施加到樣品上。

6.一種在借助于根據權利要求1-4中任一項的加熱爐來選擇的固定溫度或溫度斜坡的影響下，利用加熱來表征材料的熱行為的方法。