[發(fā)明專利]用于測試圖像傳感器的漸變圖像捕捉無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200980150026.1 | 申請日: | 2009-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN102246530A | 公開(公告)日: | 2011-11-16 |
| 發(fā)明(設計)人: | 中村文樹 | 申請(專利權)人: | 美商豪威科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H04N17/00 | 分類號: | H04N17/00 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 張欣 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 測試 圖像傳感器 漸變 圖像 捕捉 | ||
1.一種用于測試x-y可尋址圖像傳感器的方法,該x-y可尋址圖像傳感器包括以行與列布置以形成陣列的多個像素,其中每個像素包含光探測器,該方法包括:
將所述多個像素曝露于光;及
當所述多個像素曝露于光時,至少逐行地改變一行光探測器累積電荷的時間量。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,還包括分析從所述x-y可尋址圖像傳感器讀出的信號的至少一部分的步驟。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,分析從所述圖像傳感器讀出的信號的至少一部分的步驟包括:生成在所述陣列中的一列或多列像素的垂直圖像特性。
4.如權利要求3所述的方法,其特征在于,還包括將在所述陣列中的一列或多列像素的所述垂直圖像特性輸出至輸出設備的步驟。
5.如權利要求3所述的方法,其特征在于,產生所述陣列中的一列或多列像素的垂直圖像特性的步驟包括:生成所述陣列中的兩列或更多列像素的垂直圖像特性。
6.如權利要求5所述的方法,其特征在于,其還包括逐行地累加從所述兩列或更多列像素中的像素讀出的信號的步驟。
7.如權利要求2所述的方法,其特征在于,分析從所述圖像傳感器讀出的信號的至少一部分的步驟包括:生成由所述陣列中的所述多個像素產生的信號的漸變圖像。
8.如權利要求7所述的方法,其特征在于,還包括將由所述陣列中的所述多個像素生成的信號的所述漸變圖像輸出至輸出設備的步驟。
9.如權利要求2所述的方法,其特征在于,還包括將以下步驟重復預定次數(shù):將所述多個像素曝露于光的步驟、當所述多個像素曝露于光時,至少逐行地改變一行光探測器累積電荷的時間量的步驟、以及分析從所述x-y可尋址圖像傳感器所讀出的信號的至少一部分的步驟。
10.如權利要求1所述的方法,其特征在于,還包括在至少逐行地改變一行光探測器累積電荷的時間量之前,將所述多個像素重置至預定信號水平的步驟。
11.如權利要求10所述的方法,其特征在于,將所述多個像素重置至預定信號水平的步驟包括:同時將所述多個像素重置至預定信號水平。
12.如權利要求10所述的方法,其特征在于,其中將所述多個像素重置至預定信號水平的步驟包括:依次將各行像素重置至預定信號水平。
13.如權利要求1至12的任一項所述的方法,其特征在于,其中當所述多個像素曝露于光時至少逐行地改變一行光探測器累積電荷的時間量的步驟包括:在不同時刻,并逐行地從所述陣列內的光探測器行中讀出信號,從而改變所述陣列內的光探測器的積分周期。
14.如權利要求1至12的任一項所述的方法,其特征在于,當所述多個像素曝露于光時至少逐行地改變一行光探測器累積電荷的時間量的步驟包括:在不同時刻,并按照像素行的不同群組從所述陣列內的光探測器行中讀出信號,從而改變所述陣列內的每個不同的行群組中的光探測器的積分周期。
15.一種用于測試x-y可尋址圖像傳感器的系統(tǒng),該x-y可尋址圖像傳感器包括以行與列布置以形成陣列的多個像素,其中每個像素包含光探測器,該系統(tǒng)包括:
控制器,用于生成信號以致使所述陣列內的所述多個像素曝露于光,并且當所述多個像素曝露于光時至少逐行地從所述陣列內讀出信號,從而改變所述陣列內的光探測器的積分周期;及
處理單元,用于分析從所述x-y可尋址圖像傳感器讀出的信號的至少一部分。
16.如權利要求15所述的系統(tǒng),其特征在于,還包括光源。
17.如權利要求15或權利要求16所述的系統(tǒng),其特征在于,其中當所述多個像素曝露于光時,所述控制器生成信號以逐行地從所述陣列讀出信號,從而改變所述陣列內的光探測器的積分周期。
18.如權利要求15或權利要求16所述的系統(tǒng),其特征在于,其中當所述多個像素曝露于光時,所述控制器生成信號以按照像素行的不同群組從所述陣列讀出信號,從而改變所述陣列內的光探測器的積分周期。
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