[發明專利]制造用于物理氣相沉積P-型透明導電膜的靶的材料無效
| 申請號: | 200980149365.8 | 申請日: | 2009-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN102245797A | 公開(公告)日: | 2011-11-16 |
| 發明(設計)人: | 蓋度·許貝里希茨;格里艾特·德里斯;達安·格德米;邁克爾·諾蘭;西蒙·D·埃利奧特 | 申請(專利權)人: | 尤米科爾公司 |
| 主分類號: | C23C14/34 | 分類號: | C23C14/34;C01F11/02;C01G3/02 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 張穎;樊衛民 |
| 地址: | 比利時*** | 國省代碼: | 比利時;BE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 制造 用于 物理 沉積 透明 導電 材料 | ||
1.用于制造p-型透明導電薄膜的靶的粉末狀氧化物材料(MxM′y)Cu2+aO2+b,其中-0.2≤a≤0.2,-0.2≤b≤0.2,并且
-M′為Sr,M為Ba和二價Cu中的一種或兩種,x>0、y>0,并且x+y=1±0.2;或者
-M為二價Cu,x=1±0.2,并且y=0。
2.權利要求1的粉末狀氧化物材料,y>0,其特征在于M′=Sr且M=Ba。
3.權利要求2的粉末狀氧化物材料,其特征在于0<x<0.20。
4.權利要求3的粉末狀氧化物材料,其特征在于0.02≤x≤0.06。
5.權利要求1-4任一項的粉末狀氧化物材料(MxM′y)Cu2+aO2+b在制造用于p-型透明導電薄膜的靶中的應用。
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