[發明專利]為旋轉陽極型X射線管補償陽極擺動

有效

• 申請號: 200980149182.6
• 申請日: 2009-12-01
• 公開（公告）號: CN102246256A
• 公開（公告）日: 2011-11-16
• 發明（設計）人: R·K·O·貝林
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦電子股份有限公司
• 主分類號: H01J35/10
• 分類號: H01J35/10;H01J35/14;H05G1/30
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 王英;劉炳勝

1.一種用于測量并補償電子束焦斑(FS)的實際位置與期望位置的再現偏差(Δz)的系統，所述電子束(EB)是由X射線管的陰極(C)的電子發射體在所述X射線管的旋轉陽極盤(RA)的靶標區域(AT)上發射的，其中，所述系統包括用于檢測其至少一個周期期間的所述再現偏差的位置傳感器(WS)，用于基于從所述位置傳感器(WS)獲得的測量結果使所述電子束(EB)偏轉的具有集成控制器的射束偏轉單元(BD)。

2.根據權利要求1所述的系統，

所述系統適于測量并補償X射線管的旋轉陽極盤(RA)相對于理想旋轉平面的傾斜角的周期性擺動，所述理想旋轉平面的取向與轉軸(S)正交，所述旋轉陽極盤(RA)由于其生產過程中的不精確性而傾斜安裝于所述轉軸上，其中，所述位置傳感器(WS)適于檢測所述傾斜角隨時間的偏差。

3.根據權利要求2所述的系統，

其中，所述位置傳感器(WS)包括位置感測模塊，所述位置感測模塊用于檢測所述焦斑(FS)的位置沿所述旋轉陽極盤的轉軸(S)的旋轉軸(z)的方向偏離的偏差幅度(Δz)。

4.根據權利要求3所述的系統，

其中，所述位置傳感器(WS)被實現為電容式傳感器或光學傳感器，其提供用于導出所述焦斑(FS)的所述偏差幅度(Δz)的信息。

5.根據權利要求3所述的系統，

其中，所述位置傳感器(WS)被實現為電流傳感器，所述電流傳感器用于測量通過所述傳感器的孔隙飛過的散射電子的數目，然后從該數目可以導出所述焦斑(FS)的所述偏差幅度(Δz)。

6.根據權利要求3所述的系統，

其中，所述位置傳感器(WS)被配置成通過比較所述X射線管(XT)所屬的X射線系統產生的每幅X射線圖像與固定安裝的照相機的至少一幅照相機圖像來導出所述偏差幅度(Δz)，從所述照相機能夠拍攝所述焦斑(FS)的所述偏差幅度(Δz)。

7.根據權利要求1到6中的任一項所述的系統，

其中，所述射束偏轉單元(BD)的所述集成控制器被配置成引導所述電子束(EB)，使得所述旋轉陽極盤(RA)的X射線產生表面上靶標區域中的電子束焦斑(FS)保持在中央X射線扇形射束(CXB)的平面(P_CXB)之內，其中，所述平面由基本與所述焦斑(FS)的時間平均位置所在的所述轉軸(S)的所述旋轉軸正交的平面給出。

8.一種旋轉陽極型的X射線管(XT)，包括根據權利要求1到7中的任一項所述的系統。

9.一種用于測量并補償電子束焦斑(FS)的實際位置與期望位置的再現偏差(Δz)的方法，所述電子束(EB)是由X射線管的陰極(C)的電子發射體在所述X射線管的旋轉陽極盤(RA)的靶標區域(AT)上發射的，其中，所述方法包括檢測其至少一個周期期間的所述再現偏差的步驟以及基于從所述測量步驟獲得的測量結果使所述電子束(EB)偏轉的步驟。

10.根據權利要求9所述的方法，

適于測量并補償X射線管的旋轉陽極盤(RA)相對于理想旋轉平面的傾斜角的周期性擺動，所述理想旋轉平面的取向與轉軸(S)正交，所述旋轉陽極盤(RA)由于其生產過程中的不精確性而傾斜安裝于所述轉軸上，其中，所述檢測步驟適于檢測所述傾斜角隨時間的偏差。

11.根據權利要求10所述的方法，

其中，引導所述電子束(EB)，使得所述旋轉陽極盤(RA)的X射線產生表面上靶標區域中的電子束焦斑(FS)保持在中央X射線扇形射束(CXB)的平面(P_CXB)之內，其中，所述平面由基本與所述焦斑(FS)的時間平均位置所在的所述轉軸(S)的所述旋轉軸正交的平面給出。

12.根據權利要求11所述的方法，

其中，引導所述電子束(EB)，使得所述電子束的焦斑軌道描繪出橢圓跡線。

13.根據權利要求11所述的方法，

其中，引導所述電子束(EB)，使得所述電子束的焦斑軌道描繪出可預定義的跡線，以便除了補償所述旋轉陽極盤的傾斜角的所述周期性擺動之外還補償支架振動和陽極盤彎曲效應。