[發明專利]自動分析裝置及用于該自動分析裝置的樣本分配方法

無效

• 申請號: 200980149041.4
• 申請日: 2009-03-19
• 公開（公告）號: CN102265166A
• 公開（公告）日: 2011-11-30
• 發明（設計）人: 水谷貴行;窪田磨譽
• 申請（專利權）人: 貝克曼考爾特公司
• 主分類號: G01N35/10
• 分類號: G01N35/10
• 代理公司: 上海市華誠律師事務所 31210
• 代理人: 梅高強

1.一種用于執行具有高攜帶污染避免等級的測定項目單的分析和具有低攜帶污染等級的測定項目單的分析兩者的自動分析裝置，其特征在于，所述自動分析裝置包括：

第一樣本分配部件，通過在其上安裝一次性端頭，用于為高攜帶污染避免等級的測定項目單執行樣本的分配，并且為具有低攜帶污染等級的測定項目單執行樣本的再分和分配；

殼體部件，用于再分和容納用于具有低攜帶污染等級的測定項目單的樣本，所述樣本通過所述第一樣本分配部件被再分和分配；和

第二樣本分配部件，通過在其上安裝可重復使用的探針，用于為具有低攜帶污染等級的測定項目單執行樣本的分配，

其中，所述第二樣本分配部件從所述殼體部件分配樣本。

2.如權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，通過所述第一樣本分配部件為具有高攜帶污染避免等級的測定項目單從樣本容器中執行樣本分配，并且為具有低攜帶污染避免等級的測定項目單從所述殼體部件執行樣本分配，對于相同樣本兩者彼此同時進行。

3.如權利要求1或2所述的自動分析裝置，其特征在于，其中，所述殼體部件被設置在所述第一樣本分配部件和所述第二樣本分配部件兩者的分配探針的軌跡的上方的位置，并且在所述位置上兩軌跡彼此相交。

4.如權利要求1或2所述的自動分析裝置，其特征在于，進一步包括傳輸部件，所述傳輸部件用于將所述殼體部件傳輸到樣本在該位置被所述第一樣本分配部件進行再分的位置和樣本在該位置被所述第二樣本分配部件進行分配的位置。

5.如權利要求1至4中任一項所述的自動分析裝置，其特征在于，其中，所述具有高攜帶污染避免等級的測定項目單是免疫測定項目單或遺傳測定項目單，并且所述具有低攜帶污染避免等級的測定項目單是生化測定項目單。

6.如權利要求1至5任一項所述的自動分析裝置，其特征在于，其中，所述第一樣本分配部件和所述第二樣本分配部件分別被包括在獨立地樞軸轉動的兩個臂中，但是該兩個臂具有共同的樞軸轉動軸線。

7.如權利要求1至6任一項所述的自動分析裝置，其特征在于，其中，所述殼體部件為等分容器。

8.如權利要求7所述的自動分析裝置，其特征在于，其中，所述等分容器在每次要容納的樣本被改變的時候被沖洗和重復使用。

9.如權利要求7所述的自動分析裝置，其特征在于，其中，所述等分容器在每次要容納的樣本被改變的時候被丟棄和被新的容器替換。

10.如權利要求1至9中任一項所述的自動分析裝置，其特征在于，進一步包括：

計算部件，所述計算部件用于為每個樣本計算具有低攜帶污染避免等級的所述測定項目單的分析所需的樣本數量；和

記錄部件，所述記錄部件用于容納通過計算部件計算出的樣本數量。

11.如權利要求1至10中任一項所述的自動分析裝置，其特征在于，進一步包括分配控制部件，所述分配控制部件用于控制：

在為具有高攜帶污染避免等級的測定項目單執行重復測試時，使用安裝有新的一次性端頭的所述第一樣本分配部件執行從所述樣本容器的分配；和

使用安裝有新的一次性端頭的所述第一樣本分配部件將樣本從所述樣本容器再分到所述殼體部件內，并且隨后當為具有低攜帶污染避免等級的測定項目單執行重復測試時，使用所述第二樣本分配部件執行從所述殼體部件的分配。

12.根據權利要求1至11中任一項所述的自動分析裝置，其特征在于，進一步包括用于沖洗所述第二樣本分配部件的探針的沖洗設備。

13.如權利要求1至12中任一項所述的自動分析裝置，其特征在于，其中，用于分析具有高攜帶污染避免等級的測定項目單的分析模塊和用于分析具有低攜帶污染避免等級的測定項目單的分析模塊被設置為獨立的單元。

14.如權利要求1至12所述的自動分析裝置，其特征在于，其中，用于分析具有高攜帶污染避免等級的測定項目單的分析模塊和用于分析具有低攜帶污染避免等級的測定項目單的分析模塊被設置在一個單元中。