[發明專利]使用道威棱鏡的高分辨率表面等離子體共振儀器

無效

• 申請號: 200980147745.8
• 申請日: 2009-09-30
• 公開（公告）號: CN102227626A
• 公開（公告）日: 2011-10-26
• 發明（設計）人: 瓊-弗朗索瓦.馬森;奧利維爾.博爾達克
• 申請（專利權）人: 蒙特利爾大學
• 主分類號: G01N21/55
• 分類號: G01N21/55;G01N21/75;G02B17/08;G01N21/21
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 吳艷

1.一種表面等離子體共振儀器，包括：

用于將光準直成光束的第一透鏡；

棱鏡，利用在該棱鏡的面上的內反射、以單傳播角度傳播所述準直光束，其中，該棱鏡的所述面構造成接收表面等離子體共振傳感器；和

用于分析來自所述棱鏡的準直光束的分析儀；

其中，至少所述第一透鏡和所述棱鏡沿單光軸排列。

2.如權利要求1所述的表面等離子體共振儀器，其中，所述棱鏡是道威棱鏡，并且其中所述棱鏡的所述面是所述道威棱鏡的長面。

3.如權利要求1所述的表面等離子體共振儀器，包括用于接收來自所述棱鏡的準直光束的采集光纖，其中，所述分析儀包括連接到所述采集光纖的分光光度計。

4.如權利要求1所述的表面等離子體共振儀器，其中，所述分析儀包括：用于處理來自所述棱鏡的準直光束的光學帶通濾波器，和連接到該光學帶通濾波器的成像相機。

5.如權利要求1所述的表面等離子體共振儀器，包括：光發生器、激發光纖，和用于在將被聚焦的光提供到所述第一透鏡以前將來自所述發生器的光聚焦到所述激發光纖中的第二透鏡。

6.如權利要求1所述的表面等離子體共振儀器，包括用于處理來自所述第一透鏡且傳播通過所述棱鏡的準直光束的偏光器。

7.如權利要求1所述的表面等離子體共振儀器，其中，來自所述棱鏡的準直光束經過第二反轉光準直透鏡由采集光纖采集。

8.如權利要求1所述的表面等離子體共振儀器，其中，所述表面等離子體共振傳感器包括具有覆蓋有金屬膜的表面的介電層。

9.如權利要求7所述的表面等離子體共振儀器，其中，所述分析儀包括提供有來自所述采集光纖的準直光束的分光光度計。

10.如權利要求1所述的表面等離子體共振儀器，包括：用于將來自所述棱鏡的光束進行準直的第二反轉光準直透鏡；和用于處理來自所述第二透鏡的準直光束的光學帶通濾波器，其中，所述分析儀包括提供有由所述光學帶通濾波器處理過的準直光束的相機。

11.如權利要求1所述的表面等離子體共振儀器，包括：用于將來自所述棱鏡的光束進行準直的第二反轉光準直透鏡；和提供有來自所述第二透鏡的準直光束的分束器，所述分束器用于將來自所述第二透鏡的準直光束提供給來自所述棱鏡的光束的多個分析儀。

12.如權利要求1所述的表面等離子體共振儀器，包括：用于將來自所述棱鏡的光束進行準直的第二反轉光準直透鏡，其中，所述第一透鏡、棱鏡、和第二透鏡沿單光軸排列。

13.如權利要求12所述的表面等離子體共振儀器，包括：用于處理來自所述第一透鏡且傳播通過所述棱鏡的準直光束的偏光器，其中，所述第一透鏡、偏光器、棱鏡、和第二透鏡沿單光軸排列。

14.如權利要求2所述的表面等離子體共振儀器，其中：

-所述道威棱鏡包括本體；

-所述道威棱鏡的長面大體平行于所述單光軸；

-所述道威棱鏡包括相對于所述單光軸的斜面；

-所述表面等離子體共振傳感器被貼靠到所述道威棱鏡的所述長面，所述表面等離子體共振傳感器包括具有覆蓋有金屬膜的表面的介電層；和

-來自所述第一透鏡的準直光束照射在所述道威棱鏡的斜面上從而以單一預定角度傳播通過所述道威棱鏡的本體，在所述單一預定角度下，在所述長面上發生所述準直光束的全內反射，以激發所述金屬膜上的表面等離子體。

15.如權利要求14所述的表面等離子體共振儀器，其中，所述道威棱鏡包括相對于所述單光軸的第二斜面，所述準直光束通過所述第二斜面離開所述道威棱鏡。

16.如權利要求1所述的表面等離子體共振儀器，其中，所述表面等離子體傳感器包括載玻片，所述載玻片具有未金屬化的表面和覆蓋有金屬膜的表面，其中，所述未金屬化的表面貼靠至所述棱鏡的面。

17.如權利要求16所述的表面等離子體共振儀器，其中，所述金屬膜包括Au。

18.如權利要求8所述的表面等離子體共振儀器，還包括用于使流體樣本接觸所述金屬膜的流控池。