[發(fā)明專利]測試方法和該方法所使用的程序產(chǎn)品

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200980147344.2
• 申請日: 2009-10-23
• 公開（公告）號: CN102224428A
• 公開（公告）日: 2011-10-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 前田裕紀(jì)
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會(huì)社愛德萬測試
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京市金杜律師事務(wù)所 11256
• 代理人: 王茂華;孟祥海

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件等電子器件的測試方法和該方法所使用的程序產(chǎn)品。本發(fā)明尤其涉及對連接在測試模塊上的多個(gè)被測器件進(jìn)行測試的方法。

背景技術(shù)

作為以往的測試方法已知有在測試模塊的一個(gè)段(segment)上僅連接一個(gè)被測器件來同時(shí)測試多個(gè)被測器件的方法。在這種情況下，由于能夠同時(shí)控制多個(gè)段，因此能夠在一次測試中同時(shí)測試多個(gè)DUT(Device?Under?Test：被測器件)。然而，在所述連接中，由于對一個(gè)段只能分配一個(gè)DUT，從而導(dǎo)致在一次連接中能進(jìn)行測試的DUT的數(shù)量受到限制。

另一方面，為了有效地應(yīng)用測試模塊的外部端子，在用戶在測試模塊的一個(gè)段上連接2個(gè)以上被測器件的情況下，連接在一個(gè)段上的2個(gè)以上被測器件不能相互同時(shí)測試，因此需要分開測試次數(shù)來進(jìn)行測試。在這種情況下，在連接于測試模塊上的被測器件的個(gè)數(shù)較多時(shí)，用戶難以任意選擇測試順序，更難以選擇測試次數(shù)少的順序。

發(fā)明內(nèi)容

因此，本發(fā)明的目的在于提供能夠解決上述課題的測試方法和程序產(chǎn)品。該目的能夠通過權(quán)利要求書中的獨(dú)立權(quán)利要求所記載的技術(shù)特征的組合來實(shí)現(xiàn)。此外，從屬權(quán)利要求規(guī)定了本發(fā)明優(yōu)選的具體例。

為了達(dá)到上述目的，根據(jù)本發(fā)明的第一方式，提供一種對連接在測試模塊上的多個(gè)被測器件進(jìn)行測試的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：(a)至少根據(jù)上述測試模塊與上述多個(gè)被測器件的連接關(guān)系來求出上述多個(gè)被測器件的組合中的、理論上能夠同時(shí)測試的被測器件的組合；和(b)從在上述步驟(a)中求出的上述組合中，依次選擇實(shí)際上同時(shí)測試的被測器件的組合來對上述多個(gè)被測器件進(jìn)行測試。

在上述測試方法中，也可以是，通過進(jìn)行上述步驟(a)和步驟(b)，以比連接在上述測試模塊上的多個(gè)被測器件的個(gè)數(shù)少的測試次數(shù)進(jìn)行測試。

在上述測試方法中，也可以是，上述測試模塊具有多個(gè)段，在上述步驟(a)中，求出上述多個(gè)被測器件的組合中的、按上述段不能同時(shí)測試的被測器件的組合，根據(jù)所述組合來求出理論上能夠同時(shí)測試的被測器件的組合。

在上述測試方法中，也可以是，在上述步驟(b)中，按照能夠同時(shí)測試的被測器件的個(gè)數(shù)從少到高的順序來選擇實(shí)際上同時(shí)測試的被測器件的組合。

在上述測試方法中，也可以是，在上述步驟(b)中，按照能夠同時(shí)測試的被測器件的個(gè)數(shù)從多到少的順序來選擇實(shí)際上同時(shí)測試的被測器件的組合。

在上述測試方法中，也可以是，在上述步驟(b)中，按照預(yù)先分配的被測器件的號碼的順序選擇實(shí)際上同時(shí)測試的被測器件的組合。

根據(jù)本發(fā)明的第二方式，提供一種程序產(chǎn)品，用于測試連接在測試模塊上的多個(gè)被測器件，其特征在于，使計(jì)算機(jī)執(zhí)行包括以下步驟的處理：(a)至少根據(jù)上述測試模塊與上述多個(gè)被測器件的連接關(guān)系來生成上述多個(gè)被測器件的組合中的、理論上能夠同時(shí)測試的被測器件的組合數(shù)據(jù)；和(b)從在上述步驟(a)中生成的上述組合數(shù)據(jù)中依次選擇實(shí)際上同時(shí)測試的被測器件的組合，測試上述多個(gè)被測器件。

附圖說明

圖1是用于說明本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的測試方法的圖。

圖2是用于說明本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的程序產(chǎn)品的圖。

圖3是表示本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的測試模塊與被測器件的連接關(guān)系的一例的圖。

圖4是表示在圖3所示的結(jié)構(gòu)中按每個(gè)段不能同時(shí)測試的被測器件的組合的圖。

圖5是表示在圖3所示的結(jié)構(gòu)中理論上能夠同時(shí)測試的被測器件的組合的圖。

圖6是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的測試方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

下面，參照附圖，通過本發(fā)明的實(shí)施方式來說明本發(fā)明，但以下的實(shí)施方式并不限定權(quán)利要求書中的發(fā)明，并且，在實(shí)施方式中說明的所有特征的組合不一定是發(fā)明的解決手段所必需的。

圖1是用于說明本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的測試方法的圖。在本實(shí)施方式中，使用圖1所示的測試裝置10來測試多個(gè)被測器件(DUT：Device?Under?Test)20。具體而言，測試裝置10生成預(yù)定的測試信號來提供給DUT20，并根據(jù)結(jié)果信號是否與期待值一致來判斷DUT20是否良好，其中結(jié)果信號是用于輸出DUT20根據(jù)測試信號而運(yùn)行的結(jié)果的信號。本實(shí)施方式的測試裝置10通過開放式體系結(jié)構(gòu)(Open?Architecture)來實(shí)現(xiàn)，作為向DUT20提供測試信號的測試模塊150，能夠使用基于開放式體系結(jié)構(gòu)的模塊。