[發明專利]光纖光學聲感測有效
| 申請號: | 200980141858.7 | 申請日: | 2009-08-21 |
| 公開(公告)號: | CN102197284B | 公開(公告)日: | 2016-10-26 |
| 發明(設計)人: | D·J·希爾;M·麥克尤恩-金 | 申請(專利權)人: | 光學感應器控股有限公司 |
| 主分類號: | G01D5/353 | 分類號: | G01D5/353;G01H9/00 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王岳;蔣駿 |
| 地址: | 英國*** | 國省代碼: | 英國;GB |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光纖 光學 聲感測 | ||
1.?一種在固體介質中檢測P波和S波的方法,包含:
將至少第一光脈沖和第二光脈沖重復地發射到至少部分地位于所述固體介質內的光纖中,其中第一和第二脈沖具有第一光頻率差;
檢測從光纖瑞利反向散射的光;
分析反向散射的光以確定針對光纖的多個分立縱向感測部分中的每一個的干擾的測量;以及
分析分立縱向感測部分中的干擾的演變以檢測P波和S波。
2.?根據權利要求1所述的方法,其中分析分立縱向感測部分中的干擾的演變包含識別該多個分立縱向感測部分中的第一系列干擾接著是第二相關系列干擾。
3.?根據權利要求2所述的方法,其中該第二系列干擾通過以基本相同的順序影響基本相同的分立縱向感測部分而與該第一系列干擾相關。
4.?根據權利要求3所述的方法,其中該第二系列干擾具有比該第一系列干擾更慢的傳播。
5.?根據前述任一權利要求所述的方法,其中該方法包含分析分立縱向感測部分的干擾的演變以及每個分立縱向感測部分的位置以識別第一波前接著是第二較慢波前。
6.?根據權利要求5所述的方法,包含確定第一波前和第二波前之一或二者的彎曲度的步驟。
7.?根據前述任一權利要求所述的方法,包含分析檢測的P波和S波以確定P波和S波的來源的另外步驟。
8.?根據權利要求7所述的方法,其中P波和S波到達兩個或更多不同分立縱向感測部分的時間差被用于確定P波和S波的來源。
9.?根據當直接或間接從屬于權利要求5時的權利要求7或權利要求8所述的方法,其中第一和第二波前中的至少一個的形狀被用于確定P波和S波的來源。
10.?一種計算機程序,當運行在合適的計算機上時執行根據前述任一權利要求所述的方法。
11.?一種用于在固體介質中檢測P波和S波的設備,包含:
光纖,至少部分地位于所述介質內;
光源,配置成將至少第一光脈沖和第二光脈沖發射到光纖中,其中第一和第二脈沖具有第一光頻率差,脈沖的光功率低于非線性閾值;
光檢測器,配置成檢測來自光纖的瑞利反向散射;以及
處理器,配置成:
???????????分析反向散射的光以確定針對光纖的多個分立縱向感測部分的干擾的測量;并且
???????????分析分立縱向感測部分中的干擾的演變以檢測P波和S波。
12.?根據權利要求11所述的設備,其中該光纖是連續的、未經修改的光纖。
13.?根據權利要求11或權利要求12所述的設備,其中該處理器布置為確定P波和S波相對于光纖的來源。
14.?光纖光學分布式聲傳感器用于檢測和識別固體介質中的P波和S波的用途。
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