[發明專利]X射線成像裝置和X射線成像方法

有效

• 申請號: 200980141289.6
• 申請日: 2009-10-19
• 公開（公告）號: CN102187207A
• 公開（公告）日: 2011-09-14
• 發明（設計）人: 向出大平;高田一廣;福田一德;渡邊壯俊
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 羅銀燕

1.一種X射線成像裝置，用于獲得關于由被檢體導致的X射線的相位偏移的信息，所述X射線成像裝置包括：

分離元件，用于將從X射線產生器單元發射的X射線在空間上分離成X射線束；

衰減器單元，具有用于接收被分離元件分離的X射線束的衰減元件的布置；以及

強度檢測器單元，用于檢測被衰減器單元衰減的X射線束的強度；并且

衰減元件依賴于衰減元件上的X射線入射位置連續改變X射線的透射量。

2.根據權利要求1的X射線成像裝置，其中，所述裝置具有：計算單元，用于從由強度檢測器單元檢測到的X射線強度信息計算被檢體的微分相位襯度圖像或相位襯度圖像。

3.根據權利要求1或2的X射線成像裝置，其中，衰減元件具有在與入射的X射線垂直的方向上連續改變的厚度。

4.根據權利要求3的X射線成像裝置，其中，衰減元件具有三角棱柱的形狀。

5.根據權利要求1或2的X射線成像裝置，其中，衰減元件具有在與入射的X射線垂直的方向上連續變化的密度。

6.根據權利要求1至3中任一項的X射線成像裝置，其中，衰減元件具有使衰減元件中的光路長度對于X射線入射位置的二階微分值為正的形狀。

7.根據權利要求1至6中任一項的X射線成像裝置，其中，所述裝置具有：移動機構，用于同步移動X射線產生器單元、分離元件、衰減器單元和強度檢測器單元。

8.一種用X射線成像裝置進行X射線成像的方法，包括：

在空間上分離X射線；以及

通過使用具有衰減元件的布置的衰減器單元，從已透射通過衰減元件的X射線的強度收集關于由被檢體導致的X射線相位偏移的信息；并且

衰減元件對應于所述元件中的X射線入射位置連續改變X射線的透射量。

9.一種X射線成像裝置，包括：

X射線產生器單元，用于產生X射線；

衰減器單元，具有多個衰減元件的布置，所述多個衰減元件各具有根據已透射通過被檢體的X射線的強度分布來連續改變X射線的透射量的吸收能力梯度；以及

X射線強度檢測器，用于檢測已被衰減器單元衰減的X射線的強度。

10.一種用X射線成像裝置進行X射線成像的方法，所述方法采用具有多個衰減元件的布置的衰減器單元來檢測通過衰減元件的X射線的強度分布的變化，所述多個衰減元件各具有根據已透射通過被檢體的X射線的強度分布來連續改變X射線的透射量的吸收能力梯度。