[發明專利]用于監視和控制向起皺烘缸涂敷性能增強材料的方法

有效

• 申請號: 200980140372.1
• 申請日: 2009-10-07
• 公開（公告）號: CN102177294A
• 公開（公告）日: 2011-09-07
• 發明（設計）人: W·A·馮德拉賽克;R·H·班克斯;G·S·福爾曼
• 申請（專利權）人: 納爾科公司
• 主分類號: D21F11/14
• 分類號: D21F11/14;B31F1/12;D21G9/00
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 劉佳

1.一種用于監視和任選地控制在起皺烘缸的表面上涂敷含性能增強材料(PEM)的涂層的方法，包括：

(a)把涂層涂敷到起皺烘缸的表面上；

(b)通過微分法來測量起皺烘缸的表面上的涂層的厚度，其中所述微分法利用不與所述涂層物理接觸的多個裝置；

(c)響應于所述涂層的厚度，任選地調節所述起皺烘缸的一個或多個確定區域中的所述涂層的涂敷，以便在起皺烘缸的表面上提供厚度均勻的涂層；以及

(d)任選地應用附加的設備，以監視和任選地控制除了起皺烘缸上的涂層的厚度之外所述涂層的其它方面。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所利用的所述多個裝置之一是渦電流傳感器。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述微分法包括下列步驟：應用渦電流傳感器以測量從傳感器到起皺烘缸的表面的距離；以及應用光學位移傳感器以測量從涂層表面到傳感器的距離。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述光學位移傳感器是激光三角測量傳感器或有色型共焦傳感器。

5.如權利要求3所述的方法，其特征在于，還包括：應用電容探測器以測量所述涂層的潮氣含量；將電容測量值與微分法測量值進行比較以確定潮氣對涂層厚度的影響；以及響應于通過微分法所確定的潮氣對厚度的影響任選地調節起皺烘缸表面上的涂層的量和分布和/或調節所述涂層的量。

6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，還包括：

a.應用IR溫度探測器以測量起皺烘缸的溫度分布；

b.應用IR溫度探測器以測量用于校正與溫度有關的潮氣介電常數所需要的涂層溫度；以及

c.把經校正的潮氣介電常數應用于電容測量值以確定正確的涂層潮氣濃度。

7.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括應用超聲波傳感器來測量所述涂層的模數，并且任選地其中，使用模數值來測量所述涂層的硬度。

8.如權利要求1所述的方法，其特征在于，使所述多個裝置在起皺烘缸上平移以提供厚度的分布且任選地提供潮氣含量和/或溫度和/或模數的分布。

9.如權利要求1所述的方法，其特征在于，使所述多個裝置位于起皺刀片和清潔刀片之間、在清潔刀片之后、或在紙巾網被壓入到涂層中之前、或上述的任何組合。

10.如權利要求1所述的方法，其特征在于，用清潔氣體清理所述多個裝置以防止污垢、薄霧干擾、灰塵干擾、過熱或它們的組合。

11.一種用于監視和任選地控制在起皺烘缸的表面上涂敷含性能增強材料(PEM)的涂層的方法，包括：

(a)把涂層涂敷到起皺烘缸表面上；

(b)提供具有源波長的干涉儀探測器，所述源波長給出穿過起皺烘缸表面上涂層的足夠大的透射；

(c)應用干涉儀探測器以測量來自涂層空氣表面和起皺烘缸的涂層缸表面的反射光以確定起皺烘缸上的涂層的厚度；

(d)響應于所述涂層的厚度任選地調節在所述起皺烘缸的一個或多個確定區域中的所述涂層的涂敷以便在起皺烘缸的表面上提供厚度均勻的涂層；以及

(e)任選地應用附加的設備以監視和任選地控制除了起皺烘缸上的涂層的厚度之外該涂層的其它方面。

12.如權利要求3所述的方法，其特征在于，還包括：應用潮氣傳感器來測量所述涂層的潮氣含量；將潮氣傳感器測量值與微分法測量值進行比較以確定潮氣對涂層厚度的影響；以及響應于通過微分法所確定的潮氣對厚度的影響任選地調節起皺烘缸表面上的涂層的量和分布和/或調節所述涂層的量，其中所述潮氣傳感器任選地在近紅外波長處測量所述涂層的組分。