[發明專利]差分梯度測量磁力計、系統及其使用方法

無效

• 申請號: 200980139386.1
• 申請日: 2009-08-05
• 公開（公告）號: CN102171588A
• 公開（公告）日: 2011-08-31
• 發明（設計）人: W·A·梅
• 申請（專利權）人: MR技術公司
• 主分類號: G01V3/40
• 分類號: G01V3/40;G01R33/022;G01R33/02;G01V3/00
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 王茂華

1.一種差分梯度測量磁力計，包括：

被配置為間隔排布的磁場傳感器的陣列；以及

用于將所述傳感器保持為所述間隔排布的支撐物。

2.根據權利要求1所述的磁力計，其中所述磁場傳感器線形排布。

3.根據權利要求2所述的磁力計，其中所述磁場傳感器均勻地間隔開。

4.根據權利要求1所述的磁力計，其中所述磁場傳感器同軸排布或正交排布。

5.根據權利要求1所述的磁力計，還包括三個或更多磁場傳感器。

6.根據權利要求1所述的磁力計，還包括可操作計算機軟件，配置用于分析由所述磁場傳感器獲得的數據。

7.根據權利要求6所述的磁力計，其中所述可操作計算機軟件配置用于消除來自地球磁場、外部射頻傳輸以及電磁噪聲的源噪聲。

8.根據權利要求6所述的磁力計，其中所述可操作計算機軟件配置用于同時收集和處理差分數據和梯度數據。

9.根據權利要求1所述的磁力計，其中至少一個磁場傳感器被用作磁場參照傳感器。

10.根據權利要求9所述的磁力計，還包括可操作計算機軟件，配置用于識別傳感器數據集合中最接近零的一個元素，并且配置用于指定一個或更多磁場傳感器作為參照傳感器。

11.一種使用磁力計的方法，包括：

將所述磁力計放置在待考察的區域或物品附近；

分析所獲得的數據以確定以下一個或多個：所定位物體的位置、形狀、尺寸以及質量；以及

其中所述磁力計包括被配置為間隔排布的磁場傳感器的陣列，以及用于將所述傳感器保持為所述間隔排布的支撐物。

12.根據權利要求11所述的方法，還包括：靜態地放置所述磁力計，使得有待考察的物品可經過所述磁力計。

13.根據權利要求11所述的方法，還包括：使所述磁力計在有待考察的區域之上經過。

14.根據權利要求11所述的方法，還包括：將所述磁場傳感器的陣列的所有傳感器的輸出標準化為共同的數據參照。

15.根據權利要求11所述的方法，還包括：從一個或多個參照磁場傳感器的輸出中減去所述陣列中的每個磁場傳感器的輸出，以便生成差分標量磁場測量值的集合，其中所述差分測量值分布于所述陣列長度上，并且與沿所述陣列的所述磁場傳感器的位置相關。

16.根據權利要求11所述的方法，還包括：消除來自地球磁場的源噪聲。

17.根據權利要求11所述的方法，還包括：消除與環境電磁噪聲相關聯的外部射頻傳輸。

18.根據權利要求11所述的方法，還包括：消除與環境電磁噪聲相關聯的外部射頻傳輸。

19.根據權利要求11所述的方法，還包括：對與所述陣列附近的固定物體相關聯的磁場干擾進行標準化。

20.根據權利要求11所述的方法，還包括：從一個或多個其他指定的磁場傳感器的輸出中減去所述陣列中的每個磁場傳感器的輸出，以便生成梯度矢量磁場測量值的集合，其中所述梯度測量值分布于所述陣列的長度上，并且與沿所述陣列的所述磁場傳感器的位置相關。

21.根據權利要求11所述的方法，還包括：在空間域中收集磁場數據。

22.根據權利要求11所述的方法，還包括：同時收集和處理差分磁場數據和梯度磁場數據，以確定所定位物體的位置、軸向定向、表觀磁質量以及磁矩。

23.根據權利要求11所述的方法，還包括：同時收集和處理差分數據和梯度數據。

24.一種差分梯度測量磁力計系統，包括：

磁力計，包括：

被配置為間隔排布的磁場傳感器的陣列；以及

用于將所述傳感器保持為所述間隔排布的支撐物；以及

可操作計算機軟件，配置用于分析由所述磁場傳感器獲得的數據。

25.根據權利要求24所述的系統，其中所述可操作計算機軟件還配置用于將所述磁場傳感器的陣列的所有傳感器的輸出標準化為共同的數據參照。