[發(fā)明專利]沉積系統(tǒng)、ALD系統(tǒng)、CVD系統(tǒng)、沉積方法、ALD方法及CVD方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200980137045.0 | 申請(qǐng)日: | 2009-08-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102160148A | 公開(公告)日: | 2011-08-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 尤金·P·馬什;蒂莫·奎克;斯特凡·烏倫布羅克;布倫達(dá)·克勞斯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 美光科技公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/205 | 分類號(hào): | H01L21/205 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287 | 代理人: | 宋獻(xiàn)濤 |
| 地址: | 美國愛*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 沉積 系統(tǒng) ald cvd 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及沉積系統(tǒng)、原子層沉積(ALD)系統(tǒng)、化學(xué)氣相沉積(CVD)系統(tǒng)、沉積方法、ALD方法及CVD方法。
背景技術(shù)
集成電路制作通常包括跨越半導(dǎo)體襯底沉積材料。半導(dǎo)體襯底可以是(例如)單獨(dú)的或者與一種或一種以上其它材料組合的單晶硅晶片。
所述所沉積的材料可以是導(dǎo)電的、絕緣的或半導(dǎo)電的。所述所沉積的材料可并入到與集成電路相關(guān)聯(lián)的眾多結(jié)構(gòu)中的任一者中,所述結(jié)構(gòu)包含(例如)電組件、使電組件彼此電隔離的絕緣材料及使電組件彼此電連接的布線。
ALD及CVD是兩種常用的沉積方法。對(duì)于ALD處理,在相對(duì)于彼此大致不重疊時(shí)間將反應(yīng)性材料依序提供于反應(yīng)室中以在襯底上方形成單層。可堆疊多個(gè)單層以形成達(dá)到所要厚度的沉積物。控制ALD反應(yīng)使得所沉積材料沿著襯底表面而非遍布反應(yīng)室形成。相反,CVD處理包括將多種反應(yīng)性材料同時(shí)提供于反應(yīng)室內(nèi)使得所沉積材料遍布反應(yīng)室形成,且接著沉降于所述室內(nèi)的襯底上以跨越所述襯底形成沉積物。
用于ALD及CVD的一些反應(yīng)性材料比其它材料昂貴得多。在本發(fā)明的一些實(shí)施例中,用于ALD及CVD的昂貴反應(yīng)性材料可歸類為前驅(qū)物,且較不昂貴的反應(yīng)性材料可歸類為反應(yīng)物。前驅(qū)物可含有金屬且可以是復(fù)合分子(例如金屬有機(jī)組合物)。相反,反應(yīng)物可以是簡(jiǎn)單分子,其中常見反應(yīng)物為氧氣(O2)、臭氧、氨氣及氯氣(Cl2)。
所述前驅(qū)物可比其構(gòu)成部分價(jià)格更高。舉例來說,包括貴重金屬(例如,金、鉑等)的前驅(qū)物通常比所述貴重金屬本身貴數(shù)倍。此外,相對(duì)較便宜的材料(例如,非貴重金屬,像銅)的前驅(qū)物本身可能依然昂貴,特別是在于形成所述前驅(qū)物時(shí)利用復(fù)雜及/或低合格率工藝的情況下。
將需要開發(fā)降低與前驅(qū)物材料相關(guān)聯(lián)的費(fèi)用的系統(tǒng)及方法。
附圖說明
圖1是實(shí)例性實(shí)施例沉積設(shè)備的示意圖。
圖2是另一實(shí)例性實(shí)施例沉積設(shè)備的示意圖。
圖3是可在利用圖2的沉積設(shè)備形成沉積物期間使用的實(shí)例性脈沖、吹掃、捕集器及旁路序列的圖形圖解說明。
圖4是另一實(shí)例性實(shí)施例沉積設(shè)備的示意圖。
具體實(shí)施方式
ALD及CVD兩者共有的一個(gè)方面在于引入到反應(yīng)室中的前驅(qū)物材料中的一些前驅(qū)物材料將保持未反應(yīng),且因此將以與其進(jìn)入所述室相同的組成形式從所述室排放。一些實(shí)施例包含適合于收回所述未反應(yīng)的前驅(qū)物材料使得可將其再引入到沉積工藝中的方法及系統(tǒng)。參考圖1到圖4描述實(shí)例性實(shí)施例。
參考圖1,此圖解說明經(jīng)配置以用于使所捕集的前驅(qū)物材料再循環(huán)的沉積系統(tǒng)10。系統(tǒng)10包含反應(yīng)室14。所述反應(yīng)室可經(jīng)配置以用于ALD及CVD中的一者或兩者(其中術(shù)語CVD在本文用于包含傳統(tǒng)CVD,且還包含傳統(tǒng)CVD工藝的衍生物,例如脈沖式CVD)。
泵16提供于所述反應(yīng)室的下游且用于拉動(dòng)各種材料穿過所述系統(tǒng)。除了泵16以外或者作為其替代方案,可提供其它組件(未展示)用于幫助各材料流動(dòng)穿過所述系統(tǒng)。流入并穿過所述室的所述材料可視為沿著以下流動(dòng)路徑流動(dòng):沿著線18延伸到所述室、如箭頭20所圖解說明的那樣延伸穿過所述室且接著沿著線22從所述室延伸出。穿過所述室的流動(dòng)可以是連續(xù)的或可包括用材料脈沖裝載所述室、將所述材料保持在所述室內(nèi)達(dá)一持續(xù)時(shí)間且接著借助吹掃循環(huán)從所述室排放所述材料。如果利用ALD,那么可利用兩個(gè)或兩個(gè)以上連續(xù)脈沖/吹掃循環(huán)來形成材料單層。
線18及22可對(duì)應(yīng)于用于將材料載送到所述反應(yīng)室及從所述反應(yīng)室載送材料的管道或其它適合導(dǎo)管。除了線18及22以外,所述系統(tǒng)還包含線24、26及28。
沿著線28展示閥30,沿著線24展示閥32及34且沿著線26展示閥36及38。可利用所述閥來調(diào)節(jié)材料沿著所述流動(dòng)路徑的流動(dòng)。
分別沿著線24及26展示一對(duì)前驅(qū)物捕集器40及42。所述前驅(qū)物捕集器經(jīng)配置以在第一條件下捕集前驅(qū)物且在第二條件下釋放所捕集的前驅(qū)物。舉例來說,所述前驅(qū)物捕集器可以是冷捕集器且因此可經(jīng)配置以在相對(duì)低溫條件下捕集前驅(qū)物且在相對(duì)高溫條件下釋放前驅(qū)物。術(shù)語“相對(duì)低溫”及“相對(duì)高溫”用于彼此比較使得所述“相對(duì)低溫”為比所述“相對(duì)高溫”低的溫度。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





