[發(fā)明專利]測量地層的電阻率的方法和設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200980136403.6
• 申請日: 2009-07-17
• 公開（公告）號: CN102177445A
• 公開（公告）日: 2011-09-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: D·迪翁;I·迪堡
• 申請（專利權(quán)）人: 普拉德研究及開發(fā)股份有限公司
• 主分類號: G01V3/28
• 分類號: G01V3/28
• 代理公司: 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002
• 代理人: 陳松濤;蹇煒

1.一種用于確定圍繞井眼的地層的電阻率的設(shè)備，包括：

細(xì)長的導(dǎo)電主體；

一對發(fā)射器天線，包括安裝于所述主體上且用于在所述地層中感生電流的第一天線和第二天線；以及

一對接收器天線，包括安裝于所述主體上且用于測量在所述儀器主體中所述接收器所在的位置處流動的軸向電流的第一天線和第二天線；

其中，所述一對發(fā)射器天線位于所述一對接收器天線的一側(cè)。

2.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中，所述第一和第二發(fā)射器天線是環(huán)形發(fā)射器天線。

3.如權(quán)利要求1或2所述的設(shè)備，其中，所述第一和第二接收器是環(huán)形接收器天線。

4.如權(quán)利要求1、2或3所述的設(shè)備，其中，所述細(xì)長的導(dǎo)電主體是鉆環(huán)。

5.如任一前述權(quán)利要求所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備是隨鉆測井儀。

6.如任一前述權(quán)利要求所述的設(shè)備，包括：第一對天線和第二對天線；以及用于配置一對天線作為接收器天線且配置另一對天線作為發(fā)射器天線的電子電路。

7.一種用于使用包括第一對間隔的天線和第二對間隔的天線的儀器對圍繞井眼的地層進(jìn)行電阻率測量的方法，其中所述第一對間隔的天線和所述第二對間隔的天線沿儀器主體分開，所述方法包括：

i)在所述井眼中安置所述儀器主體，使得所述第一對天線位于所述井眼中預(yù)定位置；

ii)操作所述第二對天線中的一個天線以在圍繞所述井眼的所述地層中感生電流；

iii)測量由所述天線的操作產(chǎn)生的電壓；

iv)測量所述主體上所述第一對天線處的軸向電流；

v)沿所述井眼移動所述儀器主體，使得所述第二對天線處于所述預(yù)定位置；

vi)操作所述第二對天線中的兩個天線，以在圍繞所述井眼的所述地層中感生電流；

vii)測量由所述天線的操作產(chǎn)生的電壓；

viii)測量作為所述第二對天線的操作的結(jié)果的，在所述主體上所述第一對天線中的一個天線處的所述軸向電流；以及

ix)使用獲得的電壓和電流測量結(jié)果確定所述地層的所述電阻率。

8.如權(quán)利要求7所述的方法，其中，所述第一對天線配置為接收器天線，且所述第二對天線配置為發(fā)射器；所述天線對中的天線的間隔、以及所述天線對的間距是使得第一發(fā)射器天線與所述一對接收器天線之間的中點之間的距離大于第二發(fā)射器天線與所述一對接收器天線之間的所述中點之間的距離。

9.如權(quán)利要求8所述的方法，其中，

步驟ii)包括操作所述第一發(fā)射器天線；以及

步驟viii)包括測量離所述發(fā)射天線最遠(yuǎn)的所述接收天線處的所述軸向電流，

以進(jìn)行遠(yuǎn)電阻率測量。

10.如權(quán)利要求8所述的方法，其中，

步驟ii)包括操作所述第二發(fā)射器天線；以及

步驟viii)包括測量離所述發(fā)射天線最近的所述接收天線處的所述軸向電流，

以進(jìn)行近電阻率測量。

11.如權(quán)利要求7-10中的任一項所述的方法，包括使用如權(quán)利要求1至6中任一項所述的設(shè)備。