[發明專利]確定成分模型識別裝置、確定成分模型識別方法、程序、存儲介質、測試系統及電子設備

無效

• 申請號: 200980135790.1
• 申請日: 2009-10-23
• 公開（公告）號: CN102150052A
• 公開（公告）日: 2011-08-10
• 發明（設計）人: 山口隆弘;石田雅裕;一山清隆
• 申請（專利權）人: 愛德萬測試株式會社
• 主分類號: G01R29/02
• 分類號: G01R29/02;G01R31/28
• 代理公司: 北京英特普羅知識產權代理有限公司 11015
• 代理人: 齊永紅

1.一種確定成分模型識別裝置，判定提供給其的概率密度函數中所包含的確定成分的類型，其特征在于，包括：

頻譜計算部，其算出所述概率密度函數在規定的變量軸上的頻譜；

空值檢測部，其檢測所述頻譜在所述變量軸上的空值；

理論值計算部，其基于所述空值檢測部檢測出的所述空值，對預先確定的多種類型的確定成分的每一個，分別計算所述確定成分的頻譜的理論值；

模型判定部，其將從所述頻譜計算部計算的所述頻譜減去各種類型的所述確定成分的頻譜的理論值而得到的對數振幅頻譜差，最接近于高斯分布的對數振幅的頻譜的所述確定成分的類型，判定為所述概率密度函數中所包含的所述確定成分的類型。

2.根據權利要求1所述的確定成分模型識別裝置，其特征在于，

所述空值檢測部檢測所述頻譜的第1空值。

3.根據權利要求2所述的確定成分模型識別裝置，其特征在于，所述模型判定部包括：

頻譜差計算部，所述頻譜差計算部對每一類型的所述確定成分，計算從所述頻譜計算部計算的頻譜中減去所述確定成分的頻譜的理論值而得到的所述對數振幅頻譜差。

4.根據權利要求3所述的確定成分模型識別裝置，其特征在于，

所述模型判定部還包括：

誤差計算部，其對每一類型的所述確定成分，計算從所述對數振幅頻譜差中減去與所述高斯分布的對數振幅的頻譜對應的成分而得到的殘留誤差；

選擇部，其選擇與所述誤差計算部計算的所述殘留誤差中最小的所述殘留誤差對應的所述確定成分的類型，作為所述概率密度函數中所包含的所述確定成分的類型。

5.根據權利要求4所述的確定成分模型識別裝置，其特征在于，

所述誤差計算部用二次曲線近似所述對數振幅頻譜差，并對每種類型的所述確定成分計算從所述對數振幅頻譜差去除所述二次曲線的成分而得到的所述殘留誤差。

6.根據權利要求4所述的確定成分模型識別裝置，其特征在于，

所述選擇部，對所述確定成分的各種類型，檢測與所述殘留誤差中的直流成分最接近的成分的值，將該值最小的所述確定成分的類型選擇為所述概率密度函數中所包含的所述確定成分的類型。

7.根據權利要求3所述的確定成分模型識別裝置，其特征在于，所述模型判定部還包括：

選擇部，所述選擇部基于對與所述確定成分的各種類型對應的所述對數振幅頻譜差在所述變量軸上進行二階微分而得到的結果，將所述確定成分的類型之一選擇為所述概率密度函數中所包含的所述確定成分的類型。

8.根據權利要求7所述的確定成分模型識別裝置，其特征在于，

所述選擇部，將在所述變量軸的預先確定的范圍內、進行了二階微分的所述對數振幅頻譜差的峰峰值最小的所述對數振幅頻譜差對應的所述確定成分的類型，選擇為所述概率密度函數中所包含的所述確定成分的類型。

9.根據權利要求8所述的確定成分模型識別裝置，其特征在于，

所述選擇部，計算在所述變量軸上的上限值比所述第1空值小的范圍內，進行了二階微分的各個所述對數振幅頻譜差的所述峰峰值。

10.根據權利要求1所述的確定成分模型識別裝置，其特征在于，

所述模型判定部，

計算從所述概率密度函數的頻譜中減去所選擇的類型的第1確定成分的頻譜而得到的對數振幅的差譜，

將從所述差譜減去所述第1確定成分以外的各種類型的所述確定成分的頻譜的理論值而得到的對數振幅頻譜差，最接近于高斯分布的對數振幅的頻譜的所述確定成分的類型，判定為所述概率密度函數中所包含的第2確定成分的類型。

11.一種確定成分模型識別方法，判定提供給其的概率密度函數中所包含的確定成分的類型，包括：

計算在規定的變量軸上所述概率密度函數的頻譜；

檢測所述頻譜在所述變量軸上的空值；

基于檢測出的所述空值，對預先確定的多種類型的確定成分的每一個，計算所述確定成分的頻譜的理論值；

將從計算的所述頻譜減去各種類型的所述確定成分的頻譜的理論值而得到的對數振幅頻譜差，最接近于高斯分布的對數振幅的頻譜的所述確定成分的類型，判定為所述概率密度函數中所包含的所述確定成分的類型。