[發明專利]圖像放大裝置、方法、集成電路及程序有效
| 申請號: | 200980135712.1 | 申請日: | 2009-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN102150418A | 公開(公告)日: | 2011-08-10 |
| 發明(設計)人: | 手塚忠則 | 申請(專利權)人: | 松下電器產業株式會社 |
| 主分類號: | H04N1/393 | 分類號: | H04N1/393;G06T3/40;G09G3/20;H04N7/01 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 王成坤;胡建新 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 放大 裝置 方法 集成電路 程序 | ||
1.一種圖像放大裝置,輸入低分辨率圖像,輸出分辨率比上述低分辨率圖像高的高分辨率圖像,其特征在于,具備:
插補部,輸入上述低分辨率圖像,生成上述高分辨率圖像的像素數的插補圖像;
特征量分析部,分析上述低分辨率圖像的特征量,輸出對于上述高分辨率圖像的各像素的上述特征量;
修正量計算部,輸入由上述特征量分析部輸出的上述特征量、和上述低分辨率圖像,輸出對于上述高分辨率圖像的各像素的修正量;
合成部,將由上述修正量計算部計算出的上述修正量、和由上述插補部生成的上述插補圖像合成,生成第1上述高分辨率圖像;以及
再修正部,使用由上述特征量分析部生成的上述特征量對由上述合成部輸出的第1上述高分辨率圖像再次進行修正,生成修正后的第2上述高分辨率圖像,將所生成的第2上述高分辨率圖像從該圖像放大裝置輸出。
2.如權利要求1所述的圖像放大裝置,其特征在于,
由上述特征量分析部輸出的上述特征量是根據插補像素位置與該插補像素位置的周邊位置的像素的像素值的傾斜程度計算的傾斜量、和作為插補像素輸出的上述高分辨率圖像的像素的上限的閾值及下限的閾值。
3.如權利要求2所述的圖像放大裝置,其特征在于,
由上述特征量分析部計算的上述傾斜量是對上述修正量計算部輸入的第1傾斜量、和對上述再修正部輸入的第2傾斜量,上述第1傾斜量與上述第2傾斜量不同。
4.如權利要求1所述的圖像放大裝置,其特征在于,
上述合成部通過對上述插補圖像中的像素值加上上述修正量,生成強調了上述插補圖像中的邊緣的第1上述高分辨率圖像;
上述再修正部通過將第1上述高分辨率圖像中的、使上述邊緣的周邊發亮的、上述邊緣的強調中的過度修正的成分設為C倍、并且對設定為C倍的該成分進行剪除,生成設定為C倍及剪除的第2上述高分辨率圖像,其中,0<C<1。
5.如權利要求4所述的圖像放大裝置,其特征在于,
由通過上述特征量分析部輸出的上述特征量表示的、上述過度修正的成分的部位的傾斜越大,上述再修正部將越小的值確定為上述C,將越小的寬度確定為上述剪除的寬度T。
6.如權利要求4所述的圖像放大裝置,其特征在于,
上述過度修正的成分是在該過度修正的成分都被從第1上述高分辨率圖像中除去的情況下產生粗糙的成分;
在上述過度修正的成分中的、僅通過由該值C得到的C倍以及用該寬度T的剪除而除去的成分被除去的情況下,由上述特征量分析部輸出的上述特征量確定不產生上述粗糙的值C及寬度T;
上述再修正部分別計算通過上述特征量確定的上述值C及上述寬度T,通過進行用計算出的由上述值C得到的C倍、和用計算出的上述寬度T的剪除,生成僅將基于該值C及該寬度T而除去的上述成分除去后的第2上述高分辨率圖像。
7.如權利要求1所述的圖像放大裝置,其特征在于,
上述再修正部使用由上述特征量分析部生成的上述特征量、和根據上述插補部輸出的上述插補圖像求出的閾值,對由上述合成部輸出的第1上述高分辨率圖像再次進行修正,生成修正后的第2上述高分辨率圖像。
8.如權利要求7所述的圖像放大裝置,其特征在于,
在上述再修正部中,計算從上述特征量分析部輸出的上述高分辨率圖像的像素值的上限的閾值及下限的閾值中的各個閾值、與上述插補部輸出的上述插補圖像的像素值的差,在上述合成部輸出的第1上述高分辨率圖像的像素值超過根據計算出的上述差設定的閾值的情況下,進行該像素值的修正。
9.如權利要求7所述的圖像放大裝置,其特征在于,
上述合成部通過對由上述插補部生成的上述插補圖像的像素值加上上述修正量,生成強調了上述插補圖像中的邊緣的上述第1高分辨率圖像;
上述再修正部生成將第1上述高分辨率圖像中的、使上述邊緣的周邊發亮的、上述邊緣的強調中的過度修正的成分中的、根據從上述插補圖像求出的上述閾值而確定的成分除去后的第2上述高分辨率圖像,對生成具有比在確定第1值作為上述閾值的情況下生成的上述第2高分辨率圖像的平坦部窄的平坦部的第2上述高分辨率圖像的第2值進行計算,作為上述閾值。
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