[發明專利]對天線元件進行饋電的裝置及方法

無效

• 申請號: 200980134706.4
• 申請日: 2009-08-17
• 公開（公告）號: CN102144335A
• 公開（公告）日: 2011-08-03
• 發明（設計）人: 安東尼斯·J·M·德格拉烏
• 申請（專利權）人: NXP股份有限公司
• 主分類號: H01Q3/42
• 分類號: H01Q3/42;H01Q21/00;H01Q3/34
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 倪斌

1.一種用于對相控陣列天線的天線元件進行饋電的裝置(100)，包括：

-至少兩條傳輸線(101，101′)，并行設置且工作于一定頻率作為諧振器，每一條傳輸線(101，101′)具有預定長度，該預定長度的大小至少為工作頻率的約四分之一電波長，

-沿傳輸線縱向方向(x)間隔設置在傳輸線(101，101′)上的多個測量位置，

-多個放大/衰減電路(110，120，130)，用于檢測來自傳輸線(101，101′)上測量位置的測量信號，處理這些測量信號，并生成輸出信號用于對相應的天線元件進行饋電，其中所述測量信號由相應位置處傳輸線中的諧振場確定。

2.根據權利要求1所述的裝置，其中，測量位置沿著傳輸線(101，101′)按等距間隔設置。

3.根據權利要求1或2所述的裝置，其中，兩條傳輸線中一條傳輸線(101)上的每一測量位置正對另一傳輸線(101′)上相應的測量位置，這種在與傳輸線(101，101′)的縱向方向橫切的方向上彼此相鄰的相對應測量位置分別形成測量位置對，其中每一放大/衰減電路(110，120，130)檢測和處理來自針對相應縱向位置的、與傳輸線(101，101′)相關聯的分配測量位置對的測量信號。

4.根據權利要求1至3所述的裝置，其中，每一傳輸線(101，101′)分別耦合至信號源(102，102′)，且信號源工作于相同頻率ω且相對于彼此具有相位差γ。

5.根據權利要求4所述的裝置，其中，一條傳輸線(101)一端耦合至相應信號源(102)，而另一傳輸線(101′)的相反端耦合至另一信號源(102′)。

6.根據權利要求1至5所述的裝置，其中，放大/衰減電路(110，120，130；210，220，230，240，250)包括放大器/衰減器，其增益/損耗可調。

7.根據權利要求6所述的裝置，其中，放大/衰減電路(110，120，130；210，220，230，240，250)各自包括用于對分配測量位置對的測量信號進行檢測和放大的第一和第二放大器，其中放大電路(110，120，130；210，220，230，240，250)的第一放大器檢測和放大測量位置對中第一傳輸線(101)的測量位置的測量信號，第二放大器檢測和放大第二傳輸線(101′)的相應測量位置的測量信號。

8.根據權利要求6或7所述的裝置，其中，放大電路各自包括求和元件(110c，120c，130c；210c，220c，230c，240c，250c)，所述求和元件將放大電路(110，120，130；210，220，230，240，250)的放大器所檢測和放大的所述測量信號相加，并產生分配至測量位置對的輸出信號用于對相應天線元件進行饋電。

9.根據權利要求6至8所述的裝置，其中，放大/衰減電路(110，120，130；210，220，230，240，250)的放大器的增益/衰減通過數模轉換器(140)可控。

10.根據權利要求9所述的裝置，其中，放大電路(110，120，130；210，220，230，240，250)被配置為級聯放大器。

11.根據權利要求1至10所述的裝置，其中，放大電路(110，120，130；210，220，230，240，250)被實現為場效應晶體管電路，且放大器被實現為共源級，放大器的輸入耦合至相應的測量位置對，輸出耦合至求和元件(110c，120c，130c；210c，220c，230c，240c，250c)的輸入，所述求和元件被配置為共柵級。

12.根據權利要求1至11所述的裝置，其中，設置至少一對傳輸線，來自該傳輸線對的各測量位置的信號被相應的放大電路檢測和放大，并被求和以生成用于天線元件的操縱信號。

13.根據權利要求12所述的裝置，其中，第二對至少兩條傳輸線被饋送相位角度約為0°和δ°的信號，其中δ＞0，且第一和第二傳輸線對的輸出信號被求和以生成用于二維平面陣列天線的天線元件的操縱信號。

14.一種系統，包括根據權利要求1至13所述的裝置以及相控陣列天線。