[發明專利]基于非即時分析的MRI-CEST診斷技術

有效

• 申請號: 200980133070.1
• 申請日: 2009-08-18
• 公開（公告）號: CN102132169A
• 公開（公告）日: 2011-07-20
• 發明（設計）人: S·艾米;D·德里·卡斯特利;D·L·朗格;J·斯坦卡內羅;E·特雷諾;F·烏格里
• 申請（專利權）人: 伯拉考成像股份公司
• 主分類號: G01R33/28
• 分類號: G01R33/28
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 張陽

1.一種用于分析身體部分的MRI-CEST診斷系統(100)，其中所述身體部分包括提供與所述身體部分的體基質磁化轉移的CEST試劑，所述系統包括：

提供輸入圖的輸入裝置(505-550)，所述輸入圖包括各自針對身體部分的相應位置的多個輸入元素，每個輸入元素指示所述位置的磁響應的頻譜，所述頻譜包括在造影劑的共振試劑頻率下和在偏離體頻率與試劑相反的參考頻率下的磁響應，其中所述試劑頻率偏離體基質的共振體頻率；

用于計算一組選定位置中每一個位置的試劑值和參考值的計算裝置(555，563)，其中根據選定位置在包括所述試劑頻率的非即時頻率試劑范圍中的磁響應計算試劑值，并且根據選定位置在包括參考頻率的非即時頻率參考范圍中的磁響應計算參考值，所述參考范圍關于所述體頻率與試劑范圍對稱；以及

用于計算每個選定位置的參數值的比較裝置(565)，其中根據選定位置的試劑值和參考值之間的比較計算參數值。

2.根據權利要求1所述的系統(100)，其中所述試劑范圍和所述參考范圍圍繞體頻率分別從不同于試劑頻率的第一試劑限度擴展到第二試劑限度，和從不同于參考頻率的第一參考限度擴展到第二參考限度。

3.根據權利要求2所述的系統(100)，其中所述第一試劑限度和所述第一參考限度由體頻率組成。

4.根據權利要求2所述的系統(100)，其中所述試劑范圍以試劑頻率為中心并且參考范圍以參考頻率為中心。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的系統(100)，其中所述計算裝置(555，563)包括用于根據選定位置在試劑范圍中的磁響應的積分來計算試劑值并且用于根據選定位置在參考范圍中的磁響應的積分計算參考值的裝置(555)。

6.根據權利要求1至4中任一項所述的系統(100)，其中所述計算裝置(555，563)包括用于根據選定位置在試劑范圍中的磁響應的積分的補余計算試劑值并且用于根據選定位置在參考范圍中的磁響應的積分的補余計算參考值的裝置(563)。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的系統(100)，其中所述組合裝置(565)包括用于根據中間值計算參數值的裝置，所述中間值則基于參考值和試劑值之間的第一比率。

8.根據權利要求7所述的系統(100)，其中所述組合裝置(565)包括用于將參數值設置為一減去中間值的裝置。

9.根據權利要求7或8所述的系統(100)，其中所述組合裝置(565)包括用于將中間值設置為第一比率的裝置。

10.根據權利要求7或8所述的系統(100)，其中所述組合裝置(565)包括用于根據第一比率與選定位置在參考頻率下的磁響應和選定位置在試劑頻率下的磁響應之間的第二比率的組合計算中間值。

11.根據權利要求10所述的系統(100)，其中所述組合裝置(565)包括用于將中間值設置為第一比率和第二比率的乘積的裝置。

12.根據權利要求1至11中任一項所述的系統(100)，其中所述輸入裝置(505-550)包括：

用于估計每個選定位置的中心頻率的估計裝置(525，535)，其中所述中心頻率提供選定位置的磁響應的最小值；以及

用于將每個選定位置的體頻率設置為該選定位置的中心頻率的校正裝置(545)。

13.根據權利要求12所述的系統(100)，其中每個輸入元素包括相應位置在工作頻率范圍中的多個磁響應的樣本陣列，其中所述工作頻率范圍包括體頻率、試劑頻率和參考頻率，所述估計裝置(525，535)包括：

用于關聯模型函數和每個選定位置的樣本陣列的裝置(525)；以及

用于將每個選定位置的中心頻率設置為相應模型函數的最小值的裝置(535)。

14.根據權利要求1至13中任一項所述的系統(100)，還包括：

用于通過將相應參數值賦予每個選定位置來創建參數圖像的裝置(575)；以及

用于顯示所述參數圖像的裝置(595)。