[發(fā)明專利]磁阻元件及其制造方法、用于該制造方法的存儲介質(zhì)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200980132854.2 | 申請日: | 2009-08-12 |
| 公開(公告)號: | CN102132434A | 公開(公告)日: | 2011-07-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 栗林正樹;大衛(wèi)·朱利安托·賈亞普拉維拉 | 申請(專利權(quán))人: | 佳能安內(nèi)華股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L43/10 | 分類號: | H01L43/10;C23C14/34;H01F10/32;H01F41/18;H01L21/8246;H01L27/105;H01L43/08;H01L43/12 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 日本神*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 磁阻 元件 及其 制造 方法 用于 存儲 介質(zhì) | ||
1.一種磁阻元件,其特征在于,具有:
襯底;
位于所述襯底側(cè)的結(jié)晶性第一強(qiáng)磁性材料層;
位于所述結(jié)晶性第一強(qiáng)磁性材料層上的、具有含B原子和Mg原子的金屬氧化物的晶體結(jié)構(gòu)的隧道阻礙層;以及
位于所述隧道阻礙層上的結(jié)晶性第二強(qiáng)磁性材料層。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁阻元件,其特征在于,在所述隧道阻礙層中,B原子在所述金屬氧化物中的含量為30原子%以下。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁阻元件,其特征在于,所述隧道阻礙層還構(gòu)成為如下的層疊膜:具有含B原子和Mg原子的合金層或者由Mg原子構(gòu)成的金屬層,在該合金層或者金屬層的兩側(cè)具有含B原子和Mg原子的金屬氧化物的結(jié)晶層。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁阻元件,其特征在于,在所述結(jié)晶性第一強(qiáng)磁性材料層與所述隧道阻礙層之間具有由Mg原子構(gòu)成的金屬層或含Mg原子的合金層。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的磁阻元件,其特征在于,所述含Mg原子的合金層是含Mg原子和B原子的合金層。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁阻元件,其特征在于,在所述結(jié)晶性第二強(qiáng)磁性材料層與所述隧道阻礙層之間具有由Mg原子構(gòu)成的金屬層或者含Mg原子的合金層。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁阻元件,其特征在于,所述合金層是含Mg原子和B原子的合金層。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中的任一項(xiàng)所述的磁阻元件,其特征在于,所述第一強(qiáng)磁性材料層、所述隧道阻礙層、所述第二強(qiáng)磁性材料層分別具有由柱狀晶的集合體形成的多晶結(jié)構(gòu)。
9.一種磁阻元件的制造方法,其特征在于,具有如下步驟:
第一步驟,使用濺射法形成無定形結(jié)構(gòu)的第一強(qiáng)磁性材料層的膜;
第二步驟,使用濺射法在所述第一強(qiáng)磁性材料層上形成含B原子和Mg原子的金屬氧化物的結(jié)晶層的膜;
第三步驟,使用濺射法,在所述金屬氧化物的結(jié)晶層上形成無定形結(jié)構(gòu)的第二強(qiáng)磁性材料層的膜;以及
第四步驟,將所述第一強(qiáng)磁性材料層和所述第二強(qiáng)磁性材料層的無定形結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)換為晶體結(jié)構(gòu)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的磁阻元件的制造方法,其特征在于,所述第四步驟是退火步驟。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的磁阻元件的制造方法,其特征在于,所述第二步驟是如下步驟:通過使用由含B原子和Mg原子的金屬氧化物構(gòu)成的靶進(jìn)行濺射,來形成含B原子和Mg原子的金屬氧化物的結(jié)晶層的膜。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的磁阻元件的制造方法,其特征在于,所述第二步驟是如下步驟:通過使用由含B原子和Mg原子的合金構(gòu)成的靶和氧化性氣體進(jìn)行反應(yīng)性濺射,來形成含B原子和Mg原子的金屬氧化物的結(jié)晶層的膜。
13.一種存儲介質(zhì),其特征在于,所述存儲介質(zhì)存儲了使用如下步驟來制造磁阻元件的控制程序,所述步驟包括:
第一濺射步驟,形成無定形結(jié)構(gòu)的第一強(qiáng)磁性材料層的膜;
第二濺射步驟,在所述第一強(qiáng)磁性材料層上形成含B原子和Mg原子的金屬氧化物的結(jié)晶層的膜;
第三濺射步驟,在所述金屬氧化物的結(jié)晶層上形成無定形結(jié)構(gòu)的第二強(qiáng)磁性材料層的膜;以及
結(jié)晶步驟,將所述第一強(qiáng)磁性材料層和所述第二強(qiáng)磁性材料層的無定形結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)換為晶體結(jié)構(gòu)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的存儲介質(zhì),其特征在于,所述結(jié)晶步驟是退火步驟。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的存儲介質(zhì),其特征在于,所述第二濺射步驟是使用了由含B原子和Mg原子的金屬氧化物構(gòu)成的靶的濺射步驟。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的存儲介質(zhì),其特征在于,所述第二濺射步驟是使用了由含B原子和Mg原子的合金構(gòu)成的靶和氧化性氣體的反應(yīng)性濺射步驟。
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