[發(fā)明專利]用于檢測對象的檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200980132760.5
• 申請日: 2009-08-20
• 公開（公告）號: CN102131458A
• 公開（公告）日: 2011-07-20
• 發(fā)明（設計）人: J·卡勒特;M·E·巴利
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦電子股份有限公司
• 主分類號: A61B5/042
• 分類號: A61B5/042;A61B18/14
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 蔡洪貴

1.一種用于檢測對象的檢測裝置，所述檢測裝置(1)包括用于檢測所述對象(2)的性質的檢測元件(17)的排列(7)，其中所述檢測元件(17)可以接觸模式工作，在接觸模式下可進行檢測，而所述檢測元件(17)與所述對象(2)接觸，以及可以非接觸模式工作，在非接觸模式下可進行檢測，而所述檢測元件(17)不與所述對象接觸。

2.如權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置(1)還包括模式確定單元(55)，用于確定檢測元件(17)是否與所述對象(2)接觸。

3.如權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，如果檢測元件(17)處于非接觸模式，所述檢測元件(17)適合通過進行單極采集獲得電信號，其取決于待確定的性質；如果檢測元件(17)處于接觸模式，所述檢測元件(17)適合通過進行單極或雙極采集獲得電信號，其取決于電位。

4.如權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測元件(17)適合獲得電信號，其取決于待確定的性質，其中所述檢測裝置包括電信號處理單元(57)，如果檢測元件(17)處于非接觸模式，所述電信號處理單元(57)用于將電信號變換到所述對象(2)的表面，在此所述對象(2)的性質被確定。

5.如權利要求4所述的檢測裝置，其特征在于，如果檢測元件(17)處于非接觸模式，電信號處理單元(57)適合于進行非接觸模式濾波并將濾波的電信號變換到所述對象(2)的表面，在此所述對象(2)的性質被確定，如果檢測元件(17)處于接觸模式，電信號處理單元(57)適合于進行接觸模式濾波。

6.如權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，還包括用于容納至少檢測元件(17)的排列(7)的管筒(6)，以便在所述對象(2)的內(nèi)部引導檢測元件(17)以檢測所述對象(2)的內(nèi)部。

7.如權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置包括用于保持檢測元件(17)的排列(7)的保持結構(50)，其中所述檢測元件(17)被布置在所述保持結構(50)上，所述保持結構(50)可在折疊狀態(tài)與至少一個展開狀態(tài)之間調(diào)節(jié)，以及所述保持結構(50)包括處于折疊狀態(tài)的細長形狀。

8.如權利要求7所述的檢測裝置，其特征在于，所述保持結構(50)適合于以及所述檢測元件(17)布置成使得在第一展開狀態(tài)下檢測元件(17)之間的間隔與在第二展開狀態(tài)下檢測元件(17)之間的間隔不同。

9.如權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測元件(17)適合施加能量和接收能量。

10.如權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置包括在成像裝置(12)中可顯像的標記(20)。

11.如權利要求10所述的檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置還包括配準單元(58)，用于將所述檢測元件(17)與所述對象(2)的模型配準。

12.一種用于檢測對象(2)的性質的檢測方法，所述檢測方法包括如下步驟：

-當所述檢測元件(17)不與所述對象(2)接觸時，通過使用檢測元件(17)的排列(7)以非接觸模式檢測所述對象(2)的性質，

-當所述檢測元件(17)與所述對象(2)接觸時，通過使用檢測元件(17)的排列(7)以接觸模式檢測所述對象(2)的性質。

13.如權利要求12所述的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法還包括在以非接觸模式檢測之后且在以接觸模式檢測之前的以下步驟：

-根據(jù)以非接觸模式檢測的性質確定所述對象(2)的受關注區(qū)域；

-使得檢測元件(17)在受關注區(qū)域與所述對象(2)接觸。

14.一種用于檢測對象(2)的計算機程序，當所述計算機程序在控制如利要求1所述的檢測裝置的計算機上運行時，所述計算機程序包括用于使所述檢測裝置實施如權利要求12所述檢測方法的步驟的程序代碼工具。