[發(fā)明專利]正型放射線敏感性組合物和抗蝕圖案形成方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200980127664.1 | 申請(qǐng)日: | 2009-07-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102099749A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-06-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 庵野祐亮;藤原考一;杉浦誠(chéng);若松剛史 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | JSR株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G03F7/40 | 分類號(hào): | G03F7/40;C08F220/28;G03F7/039;H01L21/027 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 左嘉勛;顧晉偉 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 放射線 敏感性 組合 圖案 形成 方法 | ||
1.一種正型放射線敏感性組合物,其在抗蝕圖案形成方法的工序(1)中使用,所述抗蝕圖案形成方法包含:工序(1),使用第一正型放射線敏感性組合物在基板上形成第一抗蝕圖案;工序(2),通過(guò)使所述第一抗蝕圖案對(duì)光或熱鈍化,從而使其對(duì)第二正型放射線敏感性組合物不溶;和工序(3),使用所述第二正型放射線敏感性組合物,在形成有所述第一抗蝕圖案的基板上形成第二抗蝕圖案,
所述正型放射線敏感性組合物含有(B)具有酸不穩(wěn)定基團(tuán)和交聯(lián)基團(tuán)的聚合物、(C)放射線敏感性酸產(chǎn)生劑和(D)溶劑。
2.如權(quán)利要求1所述的正型放射線敏感性組合物,其進(jìn)一步含有(A)具有酸不穩(wěn)定基團(tuán)但不具有交聯(lián)基團(tuán)的聚合物。
3.如權(quán)利要求2所述的正型放射線敏感性組合物,其中,所述聚合物(A)和所述聚合物(B)含有:
下述通式(1)表示的具有酸不穩(wěn)定基團(tuán)的重復(fù)單元,和
選自下述通式(2-1)~(2-5)和下述式(2-6)中的至少一個(gè)的具有內(nèi)酯結(jié)構(gòu)的重復(fù)單元、或下述通式(2-7)表示的重復(fù)單元,
所述通式(1)中,R1表示氫原子、甲基或三氟甲基;R2相互獨(dú)立地表示碳原子數(shù)為1~4的直鏈狀或支鏈狀的烷基、或碳原子數(shù)為4~20的1價(jià)脂環(huán)式烴基,或表示任意兩個(gè)R2相互結(jié)合并與各自結(jié)合的碳原子一起形成的碳原子數(shù)為4~20的2價(jià)脂環(huán)式烴基或其衍生物,剩余的R2表示碳原子數(shù)為1~4的直鏈狀或支鏈狀的烷基、或碳原子數(shù)為4~20的1價(jià)脂環(huán)式烴基或其衍生物,
所述通式(2-1)中,R3表示氫原子或碳原子數(shù)為1~4的取代或非取代的烷基,p表示1~3的整數(shù);所述通式(2-4)和(2-5)中,R4表示氫原子或甲氧基;所述通式(2-2)和(2-3)中,A表示單鍵或亞甲基,m表示0或1;所述通式(2-3)和(2-5)中,B表示氧原子或亞甲基,
所述通式(2-7)中,R10表示氫原子、甲基或三氟甲基,R11相互獨(dú)立地表示氫原子或碳原子數(shù)為1~5的鏈狀烴基,D表示單鍵、碳原子數(shù)為1~30的2價(jià)或3價(jià)鏈狀烴基、碳原子數(shù)為3~30的2價(jià)或3價(jià)脂環(huán)式烴基、或者碳原子數(shù)為6~30的2價(jià)或3價(jià)芳香族烴基;其中,D為3價(jià)時(shí),D所含有的碳原子與構(gòu)成環(huán)狀碳酸酯的碳原子結(jié)合,形成環(huán)結(jié)構(gòu);n表示2~4的整數(shù)。
4.如權(quán)利要求1~3中任一項(xiàng)所述的正型放射線敏感性組合物,其中,所述聚合物(B)含有下述通式(3-1)和(3-2)中的至少任一通式表示的重復(fù)單元,
所述通式(3-1)和(3-2)中,R1表示氫原子、甲基或三氟甲基;所述通式(3-1)中,R5表示亞甲基、亞乙基或亞丙基,R6表示下述通式(4)所示的基團(tuán)或下述通式(5)所示的基團(tuán);所述通式(3-2)中,R7表示亞甲基或碳原子數(shù)為2~6的亞烷基,R8表示氫原子、甲基或乙基;n表示0或1,
所述通式(4)和(5)中,R9相互獨(dú)立地表示氫原子或1~10的直鏈狀或支鏈狀的烷基。
5.如權(quán)利要求4所述的正型放射線敏感性組合物,其中,相對(duì)于所述聚合物(B)所含有的重復(fù)單元的總和100mol%,所述聚合物(B)所含有的、所述通式(3-1)或(3-2)表示的重復(fù)單元的比例為1~30mol%。
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G03F7-00 圖紋面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工藝;圖紋面照相制版用的材料,如:含光致抗蝕劑的材料;圖紋面照相制版的專用設(shè)備
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