[發明專利]核酸擴增的對照的檢測方法及其用途

無效

• 申請號: 200980124610.X
• 申請日: 2009-12-16
• 公開（公告）號: CN102076849A
• 公開（公告）日: 2011-05-25
• 發明（設計）人: 平井光春;間嶋智史;中嶋真也;鐮田達夫
• 申請（專利權）人: 愛科來株式會社
• 主分類號: C12N15/09
• 分類號: C12N15/09;C12Q1/68
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳

1.一種對照檢測方法，檢測在反應體系中對檢測體核酸的標的序列進行擴增時顯示所述反應體系的擴增性能的對照，其特征在于：

所述對照是顯示反應體系中發生擴增反應的陽性對照和顯示反應體系中混入不需要的核酸的陰性對照，

所述反應體系中含有引物、檢測用探針和對照用模板核酸，

所述引物是能夠對所述標的序列進行擴增的引物，

所述檢測用探針是能夠與所述標的序列雜交的探針，

所述對照用模板核酸能夠利用所述引物進行擴增，

利用所述引物擴增的所述對照用模板核酸的擴增區域中，所述檢測用探針能夠進行雜交，

所述對照用模板核酸的擴增區域和所述檢測用探針的Tm值(Tm_C)是與所述標的序列和所述檢測用探針的Tm值(Tm_A)不同的值，

所述對照檢測方法包括下述(a1)～(a3)工序，在一個反應體系中檢測所述陽性對照和所述陰性對照：

(a1)擴增工序，在所述反應體系中，使用所述引物，進行所述對照用模板核酸的擴增，

(a2)分析工序，使用所述(a1)工序的所述反應體系，在所述檢測用探針的存在下，進行解鏈曲線分析，

(a3)判斷工序，通過所述解鏈曲線中的峰，判斷所述陽性對照和所述陰性對照分別為陽性還是陰性。

2.如權利要求1所述的對照檢測方法，其特征在于：

所述(a3)工序為，

在所述解鏈曲線中，

當所述對照用模板核酸的擴增區域和所述檢測用探針的Tm值(Tm_C)存在峰時，判斷所述陽性對照為陽性，

當所述對照用模板核酸的擴增區域和所述檢測用探針的Tm值(Tm_C)不存在峰時，判斷所述陽性對照為陰性，

當所述對照用模板核酸的擴增區域和所述檢測用探針的Tm值(Tm_C)以外不存在峰時，判斷所述陰性對照為陰性，

當所述對照用模板核酸的擴增區域和所述檢測用探針的Tm值(Tm_C)以外存在峰時，判斷所述陰性對照為陽性。

3.如權利要求1所述的對照檢測方法，其特征在于：

所述對照用模板核酸中，其擴增區域中所述檢測用探針的雜交區域的長度是與所述標的序列中所述檢測用探針的雜交區域的長度不同的長度。

4.如權利要求1所述的對照檢測方法，其特征在于：

所述檢測用探針是與所述標的序列的規定區域互補的堿基序列，

所述對照用模板核酸在其擴增區域中具有能夠與所述檢測用探針部分雜交的堿基序列。

5.如權利要求4所述的對照檢測方法，其特征在于：

所述對照用模板核酸在其擴增區域中具有與所述標的序列中的所述檢測用探針的雜交區域在5′側和3′側的至少一側不同的堿基序列。

6.如權利要求1所述的對照檢測方法，其特征在于：

所述檢測用探針是與所述標的序列部分互補的堿基序列，

所述對照用模板核酸在其擴增區域具有與所述檢測用探針互補的堿基序列。

7.如權利要求6所述的對照檢測方法，其特征在于：

所述對照用模板核酸在其擴增區域具有與所述標的序列中的所述檢測用探針的雜交區域相同的堿基序列，并且，與其相鄰，具有與所述標的序列中的所述雜交區域的5′側和3′側的至少一側鄰接的區域不同的堿基序列。

8.如權利要求1所述的對照檢測方法，其特征在于：

所述對照用模板核酸中，其擴增區域中所述檢測用探針的雜交區域的堿基序列是與所述標的序列中所述檢測用探針的雜交區域的堿基序列的相同性低于100％的序列。

9.如權利要求8所述的對照檢測方法，其特征在于：

所述對照用模板核酸的所述雜交區域和所述檢測用探針的互補性，與所述標的核酸的所述檢測用探針的雜交區域和所述檢測用探針的互補性不同。

10.如權利要求1所述的對照檢測方法，其特征在于：

所述標的序列含有顯示多態性的標的部位，

所述檢測用探針含有與所述標的序列中含有所述標的部位的區域互補的堿基序列。