[發明專利]含磷摻雜劑以及使用含磷摻雜劑在半導體襯底中形成磷摻雜區域的方法有效
| 申請號: | 200980121738.0 | 申請日: | 2009-08-18 |
| 公開(公告)號: | CN102057466A | 公開(公告)日: | 2011-05-11 |
| 發明(設計)人: | 黃紅敏;C·高;Z·丁;A·彭;劉亞群 | 申請(專利權)人: | 霍尼韋爾國際公司 |
| 主分類號: | H01L21/265 | 分類號: | H01L21/265 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 曹小剛;林毅斌 |
| 地址: | 美國新*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 摻雜 以及 使用 半導體 襯底 形成 區域 方法 | ||
1.含磷摻雜劑,包含:
磷源,其包含含磷鹽、含磷酸、含磷陰離子或其組合;
堿性材料、源于堿性材料的陽離子或其組合;和
液體介質。
2.如權利要求1所述的含磷摻雜劑,其中所述磷源包含無機的非金屬的含磷酸、無機的非金屬的含磷鹽或其組合。
3.如權利要求1所述的含磷摻雜劑,其中所述磷源包含選自由如下物質組成的組的含磷酸:磷酸(H3PO4)、亞磷酸(H3PO3)、次磷酸(H3PO2)、焦磷酸(H4P2O7)以及具有式HR1R2PO2和H2RPO3的酸,其中R、R1和R2是烷基、芳基或其組合。
4.如權利要求1所述的含磷摻雜劑,其中所述磷源包含選自由如下物質組成的組的含磷鹽:磷酸銨((NH4)3PO4)、磷酸二氫銨(NH4H2PO4)、磷酸氫二銨((NH4)2HPO4)、亞磷酸銨((NH4)3PO3)、亞磷酸氫二銨((NH4)2HPO3)、亞磷酸二氫銨(NH4H2PO3)、次磷酸銨((NH4)3PO2)、次磷酸氫二銨((NH4)2HPO2)、次磷酸二氫銨(NH4H2PO2)、焦磷酸銨((NH4)4P2O4)、焦磷酸氫三銨((NH4)3HP2O4)、焦磷酸二氫二銨((NH4)2H2P2O4)、焦磷酸三氫銨(NH4H3P2O4)、以及具有式(NR3R4R5R6)3PO4、(NR3R4R5H)3PO4、(NR3R4H2)3PO4、(NR3H3)3PO4的磷酸鹽,其中R3、R4、R5和R6是烷基、芳基或其組合。
5.如權利要求1所述的含磷摻雜劑,其中所述含磷摻雜劑具有大約0至大約10的pH。
6.如權利要求5所述的含磷摻雜劑,其中所述含磷摻雜劑具有大約6至大約7的pH。
7.如權利要求1所述的含磷摻雜劑,其中所述磷源中的磷元素構成不大于大約60重量%的所述含磷摻雜劑。
8.如權利要求1所述的含磷摻雜劑,其中所述液體介質選自由醇、N-甲基吡咯烷酮(NMP)、丙二醇甲醚醋酸酯(PGMEA)、乙酸乙酯、二甲基甲酰胺(DMF)、甘油、四氫呋喃(THF)、水及其混合物組成的組。
9.如權利要求1所述的含磷摻雜劑,其中所述液體介質構成不大于大約95體積%的所述含磷摻雜劑。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





